基于衍射干涉原理的高精度光柵位移測量系統(tǒng)研究
本文關(guān)鍵詞:低成本高精度角位移測量系統(tǒng)研究與設(shè)計,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
《哈爾濱工業(yè)大學(xué)》 2014年
基于衍射干涉原理的高精度光柵位移測量系統(tǒng)研究
王雪英
【摘要】:隨著現(xiàn)代科技的發(fā)展,納米測量技術(shù)在各領(lǐng)域都得到了廣泛應(yīng)用。而激光干涉測量系統(tǒng)和光柵測量系統(tǒng)是在現(xiàn)代精密測量技術(shù)中被應(yīng)用最廣泛的。其中,光柵測量系統(tǒng)采用光柵柵距作為測量基準,測量基準固定,且不受環(huán)境影響,對光源穩(wěn)頻要求低,從而降低了成本;光路結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,方便小型化,這些優(yōu)點使得光柵測量有著顯而易見的優(yōu)點,彌補了激光干涉的不足,在納米級測量的研究和應(yīng)用中越來越被重視。研究國內(nèi)外光柵測量計數(shù)發(fā)現(xiàn),國外的研究已經(jīng)很成熟,并且各種類型光柵測量的產(chǎn)品已批量生產(chǎn),國內(nèi)在這方面雖然取得了一些成就,但據(jù)國外還有很大的差距。 本文研究了基于衍射干涉原理的光柵位移測量系統(tǒng),首先分析了干涉衍射原理、光學(xué)多普勒效應(yīng),衍射光柵的衍射特性。重點對自行設(shè)計、搭建的光柵位移測量系統(tǒng)進行理論分析和實驗論證,小型化了讀數(shù)頭部分,將所有的光學(xué)元件集成。完成了小型化的讀數(shù)頭的光學(xué)元件夾緊機構(gòu)的機械設(shè)計。 分析了光柵位移測量系統(tǒng)中的誤差來源,并且逐項對各誤差因素進行分析,包括光路誤差分析、電路誤差分析兩部分。光路誤差包括光柵引入的誤差、激光光源引入的誤差、光路對位誤差等。電路誤差包括光電轉(zhuǎn)換誤差和計數(shù)誤差等。光路的對位誤差分析包括利用光學(xué)設(shè)計軟件Lighttools分析光柵與光學(xué)讀數(shù)頭的對位等、借助偏振光學(xué)理論分析1/4波片不良對位誤差。 設(shè)計了調(diào)理電路和信號處理電路,調(diào)理電路消除了信號中存在的誤差,包括直流電平漂移誤差、非正交誤差、以及不等幅誤差等,改進了之前電路板中直流偏置誤差依舊存在的問題,增加了偏置校正環(huán)節(jié)。信號處理電路主要是利用FPGA對數(shù)據(jù)進行采集、辨向、計數(shù)和細分處理以及位移計算。并且實現(xiàn)了與上位機的串口通信,顯示界面由LabVIEW設(shè)計,能顯示最后位移數(shù)據(jù)。 最后搭建了光學(xué)平臺,組裝了微型化讀數(shù)頭,構(gòu)建整個位移測量系統(tǒng),對系統(tǒng)各模塊性能進行了測試,并完成了系統(tǒng)實驗和結(jié)果分析。實驗表明,在(0~100)um的測量范圍內(nèi),,本系統(tǒng)可以達到優(yōu)于5nm的分辨力,且線性度、重復(fù)性良好。
【關(guān)鍵詞】:
【學(xué)位授予單位】:哈爾濱工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2014
【分類號】:TP274
【目錄】:
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本文關(guān)鍵詞:低成本高精度角位移測量系統(tǒng)研究與設(shè)計,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
本文編號:240409
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