發(fā)布時間：2018-10-23 16:40

【摘要】：介紹了積累氦質(zhì)譜檢漏儀的出現(xiàn)和積累氦質(zhì)譜組合檢測方法的提出,分析了現(xiàn)行美國軍用標準采用的以氦氣為粗漏細漏示蹤氣體組合檢測方法的局限性,介紹了改進這種方法的發(fā)明專利,指出改進后在適用嚴密等級τHemin和內(nèi)腔容積V范圍方面的局限性。論述了以氬氣為粗漏示蹤氣體、以氦氣為細漏示蹤氣體的積累氦質(zhì)譜組合檢測方法的優(yōu)越性,給出了設(shè)計這種專利方法的邏輯思路和理論公式,指出這種方法對需要檢測的τHemin和V范圍,具有良好的適用性,并且提出了改進積累氦質(zhì)譜檢漏儀的要求。
[Abstract]:The appearance of accumulative helium mass spectrometer and the combined detection method of accumulative helium mass spectrometry are introduced. The limitation of the combined detection method using helium gas as coarse leakage and fine leak tracer gas adopted in the current US military standard is analyzed. This paper introduces the invention patent of improving this method, and points out the limitation of the improved method in applying the strict grade 蟿 Hemin and the scope of the volume V of the cavity. The superiority of the combined detection method of accumulative helium mass spectrometry with argon gas as coarse leak tracer gas and helium gas as fine leak tracer gas is discussed. The logical thinking and theoretical formula for designing this patented method are given. It is pointed out that this method has good applicability to the 蟿 Hemin and V range to be detected, and the requirement of improving the leak detector for accumulative helium mass spectrometry is put forward.
【作者單位】： 北京市科通電子繼電器總廠有限公司;
【分類號】：TN606;TH843

【參考文獻】

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【共引文獻】

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本文編號：2289858