本文關(guān)鍵詞：微波無(wú)損檢測(cè)及其成像算法的研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

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沈陽(yáng)工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文微波無(wú)損檢測(cè)及其成像算法的研究姓名:張俊慧申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別:碩士專業(yè):測(cè)試計(jì)量技術(shù)及儀器指導(dǎo)教師:許會(huì)20040301————一堡墜蔓、業(yè)查堂墮主堂篁堡奎一摘要微波成像是當(dāng)今電磁學(xué)中應(yīng)用性很強(qiáng)的的沿性研究課題,它是利用微波技術(shù)、電子技術(shù)和數(shù)字圖像處理技術(shù)等的綜合高科技探測(cè)手段。微波成像也是一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù),它是根據(jù)被測(cè)物體外部的散射場(chǎng)檢測(cè)到的散射數(shù)據(jù)重建物體內(nèi)部的復(fù)介電常數(shù)圖像的一種技術(shù)。在成像時(shí)首先用低功率的微波場(chǎng)照射被測(cè)物體,然后檢測(cè)被測(cè)物體的散射場(chǎng),進(jìn)而進(jìn)行成像研究。與超聲、x射線等傳統(tǒng)的測(cè)缺技術(shù)不同,微波檢測(cè)不是依據(jù)材料的密度而是電磁特性,因而穿透能力強(qiáng),同時(shí)在微波頻段,各種材料的電磁變化比其他物理性質(zhì)對(duì)受檢試件的缺陷更為敏感,這是微波檢測(cè)的優(yōu)越性所在。微波成像技術(shù)正處在發(fā)展階段,微波成像技術(shù)的未來(lái)取決于微波檢測(cè)技術(shù)的改進(jìn)和微波成像算法的完善。微波成像在軍事和民用方面都有廣泛的用途。在民用方面,微波成像被廣泛地應(yīng)用于工業(yè)的無(wú)損檢測(cè)、地球資源勘探、隱匿物體的探測(cè)、目標(biāo)識(shí)別、國(guó)家安全檢查和隱身與反隱身等方面。在醫(yī)學(xué)上也有著巨大的應(yīng)用前景。本課題是遼寧省科技廳2002年資助課題,利用微波無(wú)損檢... 內(nèi)容來(lái)自轉(zhuǎn)載請(qǐng)標(biāo)明出處.

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