本文選題：X射線衍射儀 + 硅漂移探測(cè)器�。� 參考：《核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù)》2016年11期

【摘要】：為適應(yīng)硅漂移探測(cè)器X射線衍射儀的需求,設(shè)計(jì)了數(shù)字多道系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用直接采樣的電路結(jié)構(gòu),不改變輸入信號(hào)形狀,將信號(hào)直接由模數(shù)變換器全采樣后獲得幅度。測(cè)試結(jié)果表明:基于直接采樣電路結(jié)構(gòu)的數(shù)字多道系統(tǒng)比傳統(tǒng)多道系統(tǒng)的峰背比提升了12.2%、丟數(shù)率降低了13.6%,可以滿足硅漂移探測(cè)器X射線衍射儀的應(yīng)用要求。
[Abstract]:In order to meet the demand of X-ray diffractometer for silicon drift detector, a digital multi-channel system is designed. The system adopts the circuit structure of direct sampling, does not change the shape of input signal, and obtains the amplitude of the signal directly from the full sampling of A / D converter. The test results show that the peak-to-back ratio of the digital multichannel system based on the direct sampling circuit structure is increased by 12.2than that of the traditional multi-channel system, and the loss rate is reduced by 13.6. it can meet the requirements of the X-ray diffractometer of the silicon drift detector.
【作者單位】： 四川大學(xué)物理學(xué)院;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金(11205108,11475121) 四川大學(xué)優(yōu)秀青年基金(2016SCU04A13)資助
【分類號(hào)】：TH74;O434.1

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本文編號(hào)：2014664