本文關(guān)鍵詞：工業(yè)X-CT用新型X射線探測器性能的模擬研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

文檔介紹：
重慶大學(xué)碩士學(xué)位論文工業(yè)X-CT用新型X射線探測器性能的模擬研究姓名:周密申請學(xué)位級別:碩士專業(yè):模式識別與智能系統(tǒng)指導(dǎo)教師:魏彪20040510重慶大學(xué)碩士學(xué)位論文中文摘要摘要工業(yè)X.CT(IndustrialX.putedTomography,ICT)是工業(yè)用x射線計算機層析成像或工業(yè)用x射線計算機斷層掃描成像的簡稱。自誕生以來,其發(fā)展和應(yīng)用令人矚目,特別是在無損檢測與無損評價領(lǐng)域顯示出了其獨特的優(yōu)點,西方發(fā)達國家均投入大量的人力、物力對其進行研究。誠然,計算機圖像技術(shù)的飛速發(fā)展對工業(yè)X.CT起到了極其重要的作用,但另一個決定性因素還在于x射線探測器技術(shù)的進步。X射線探測器的技術(shù)指標(biāo)限定了這些設(shè)備最后的技術(shù)水平。在工業(yè)X—CT系統(tǒng)中,探測器技術(shù)是工業(yè)X-CT系統(tǒng)的三大關(guān)鍵技術(shù)之一(探測器技術(shù)、圖像重建及處理技術(shù)和機械與自動控制技術(shù))。探測器技術(shù)就是如何把x射線與被檢測物作用后,將包含有被檢測物信息的射線信號轉(zhuǎn)化成為可進行處理的電信號。該測量技術(shù)將直接影響到工業(yè)X.CT系統(tǒng)的性能指標(biāo)及應(yīng)用效果。本文詳細研究了國內(nèi)外工業(yè)X.CT中探測器的設(shè)計方案,對x射線管為射線源,基于CsI(T1)D(ChargeCoupledDevice)器件,采用光纖和光纖面板進行光耦合及傳輸,以扇形束線陣掃描方式實現(xiàn)對x射線探測... 內(nèi)容來自轉(zhuǎn)載請標(biāo)明出處.

  本文關(guān)鍵詞：工業(yè)X-CT用新型X射線探測器性能的模擬研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。