本文選題：原子力顯微鏡 + 探針制備��； 參考：《實(shí)驗(yàn)技術(shù)與管理》2014年03期

【摘要】：研究了實(shí)驗(yàn)室條件下采用電化學(xué)腐蝕方法制備原子力量微鏡探針的工藝及實(shí)驗(yàn)參數(shù)對探針腐蝕精細(xì)程度的影響。實(shí)驗(yàn)設(shè)備雖然簡單,但能制備出實(shí)用的探針。在制備過程中變量較多,可操作性強(qiáng),使學(xué)生能深刻理解探針與樣品表面相互作用過程,并對原子力顯微鏡的應(yīng)用有初步的了解。
[Abstract]:The preparation process of atomic force micromirror probe by electrochemical etching under laboratory conditions and the influence of experimental parameters on the corrosion fineness of the probe were studied. Although the experimental equipment is simple, it can produce practical probe. In the process of preparation, there are many variables and strong maneuverability, which enables students to understand the process of interaction between probe and sample surface, and to understand the application of atomic force microscope (AFM).
【作者單位】： 北京航空航天大學(xué)物理科學(xué)與核能工程學(xué)院;北京航空航天大學(xué)微納測控與低維物理教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】：國家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(61371008) 北京市自然科學(xué)基金項(xiàng)目(4132038)資助
【分類號】：TH742.9

【參考文獻(xiàn)】

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【二級參考文獻(xiàn)】

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本文編號：1828949