本文選題：鉑電阻　切入點：測溫系統(tǒng)　出處：《光學(xué)精密工程》2014年04期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：普通四線制鉑電阻測溫系統(tǒng)受恒流源長短期漂移、導(dǎo)線熱電動勢影響,其測量準確度難以超過0.1℃量級。本文分析了一種改進型4線制高精度鉑電阻測溫方法的原理誤差,并設(shè)計了相應(yīng)的高精度鉑電阻測溫系統(tǒng)。采用溫度系數(shù)小、阻值穩(wěn)定性好的參考電阻作為鉑電阻阻值測量基準,消除了恒流源長期漂移引起的鉑電阻測溫誤差;分別在正、反向恒流激勵條件下測量了鉑電阻上的電壓,利用導(dǎo)線熱電勢大小與方向的短期不變性,對得到的兩電壓量求差以消除導(dǎo)線熱電勢的影響;通過半導(dǎo)體致冷器(TEC)控制恒流源溫度來減小恒流源的短期電流漂移,進而減小其對鉑電阻測溫精度的影響;設(shè)計了精度高、階躍響應(yīng)速度快的分時復(fù)用式電壓信號采集單元用來高精度地測量鉑電阻和參考電阻上電壓量的比值。等效實驗和校準實驗結(jié)果表明,高精度鉑電阻測溫系統(tǒng)的測量穩(wěn)定性優(yōu)于0.005℃/10day,測量分辨力優(yōu)于0.005℃,測量準確度為0.02℃(k=2),滿足超精密激光干涉測量系統(tǒng)提出的高精度溫度測量需求。
[Abstract]:The conventional four-wire platinum resistance temperature measuring system is affected by the constant current source drift in the long and short term and the thermoelectromotive force of the conductor. The measurement accuracy is difficult to exceed 0.1 鈩，

本文編號：1610603