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高精度平面子孔徑拼接算法研究

發(fā)布時(shí)間:2017-12-12 00:33

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【摘要】:對平面子孔徑拼接累積誤差的理論分析及數(shù)值仿真表明,參考鏡面形的拼接重疊區(qū)域的局部斜率差和直流偏差是產(chǎn)生累積誤差的原因。為了提高大口徑平面光學(xué)元件子孔徑拼接檢測精度,提出一種簡單有效的可以減小子孔徑拼接測量累積誤差的方法,該方法采用第4項(xiàng)和第6項(xiàng)澤尼克像差擬合一個(gè)假設(shè)的準(zhǔn)參考鏡面形,再從每個(gè)子孔徑測量結(jié)果中減去,最后拼接合成全口徑面形。對450mm×60mm的平面鏡進(jìn)行了8個(gè)子孔徑的拼接檢測,去除準(zhǔn)參考鏡面形前后,拼接測量結(jié)果與Zygo公司24英寸(600mm)口徑干涉儀檢測結(jié)果的偏差峰谷(PV)值從λ/7減小至λ/100。所擬合的準(zhǔn)參考鏡面形誤差為0.02λ(PV值),與標(biāo)準(zhǔn)鏡的面形誤差為同一量級,其對每個(gè)子孔徑測量結(jié)果的影響可以忽略。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本文方法能夠有效控制拼接累積誤差,提高拼接檢測精度。
【作者單位】: 中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所信息光學(xué)與光電技術(shù)實(shí)驗(yàn)室;中國科學(xué)院大學(xué);
【基金】:國家自然科學(xué)基金(60938003,61205102,61275207) 中國科學(xué)院青年創(chuàng)新促進(jìn)會
【分類號】:TH74
【正文快照】: 1104002-1隨著現(xiàn)代光學(xué)的發(fā)展,大口徑平面光學(xué)元件在極大規(guī)模集成電路制造、天文望遠(yuǎn)鏡、慣性約束聚變和同步輻射等系統(tǒng)中的應(yīng)用越來越廣泛,也對大口徑光學(xué)元件的面形檢測精度提出了很高的要求。子孔徑拼接方法易拓展測量口徑、測量空間分辨率高、系統(tǒng)成本低,能夠?qū)崿F(xiàn)大口徑光

【相似文獻(xiàn)】

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2 鄭婉U,

本文編號:1280526


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