本文關鍵詞：X-熒光儀在鋁工業(yè)分析中的應用

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【摘要】：利用X熒光儀分析鋁及鋁合金中的雜質含量,對測試條件的選擇、標準曲線的繪制、基體效應的校正、方法準確度、精密度幾個方面進行了研究。生產實踐證明:用X熒光儀測定鋁及鋁合金中鐵、硅、錳、鋅、鈦、鎂六種元素含量的相對標準偏差(n=10)在0.09%~3.36%之間。X射線熒光光譜分析方法精密度高、準確度高、簡便、快速,分析成本低,在鋁工業(yè)中完全可以應用于實際分析,是分析檢測發(fā)展的重要方向。
【作者單位】： 貴州理工學院材料與冶金工程學院;
【基金】：貴州理工學院高層次人才科研啟動經費項目“復雜電解質中成分準確分析技術研究”(編號:XJGC20130903)
【分類號】：TH744.4
【正文快照】： X射線熒光光譜分析法是一種非破壞性的儀器分析方法,因其光譜由原子內層電子躍遷產生,一般與元素的化學價態(tài)和樣品存在形式(固體、粉末、液體等)無關,可應用于表面層狀態(tài)或鍍層厚度的測定,該法較發(fā)射光譜等其他儀器分析方法譜線單純、干擾少、容易解析,能對光譜連續(xù)掃描,便于

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本文編號：1266887