本文關(guān)鍵詞：固體馬赫-曾德爾成像光譜儀反演模型及誤差分析

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【摘要】：基于一種固體馬赫-曾德爾(Mach-Zehnder)成像光譜儀,從理論上嚴格推導(dǎo)了其光譜反演模型,通過該光譜反演模型著重分析了反射面平移誤差對系統(tǒng)光譜反演帶來的影響。運用Zemax軟件建立了成像光譜儀的仿真模型,并運用該仿真模型對固體馬赫-曾德爾成像光譜系統(tǒng)光譜反演及平移誤差推導(dǎo)結(jié)果進行了仿真驗算。理論推導(dǎo)及仿真結(jié)果表明,固體馬赫-曾德爾成像光譜儀中反射面的平移誤差將對系統(tǒng)的光譜反演結(jié)果帶來影響,并且光譜的反演誤差與兩路剪切分光光路中反射面平移誤差的總和相關(guān)。因此,在固體馬赫-曾德爾成像光譜儀的研制過程中,需要嚴格控制兩路平移誤差的總和,或通過適當(dāng)?shù)难a償遏制其對測量結(jié)果的影響,提高系統(tǒng)的光譜測量精度。
【作者單位】： 中國科學(xué)院光電研究院;中國科學(xué)院大學(xué);
【基金】：國家杰出青年科學(xué)基金(61225024)
【分類號】：TH744.1
【正文快照】： 1引言高光譜成像探測作為空間對地觀測及物體目標識別極其重要的一種技術(shù),已廣泛應(yīng)用于空間遙感,對地觀測,以及大氣、海洋探測等諸多領(lǐng)域[1-5]。依照重構(gòu)數(shù)據(jù)立方體的方式不同,光譜成像技術(shù)主要分為直接型和間接型兩大類。直接型包括色散型、濾光片型和二元光學(xué)元件型,間接型

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本文編號：1257002