非球面CCOS拋光軌跡規(guī)劃研究
本文關(guān)鍵詞:非球面CCOS拋光軌跡規(guī)劃研究
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【摘要】:近年來,隨著我國制造業(yè)水平和光學產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展,,對高精度非球面的需求也日益增加。拋光作為高精度非球面加工的最后一道工序,對于非球面的制備有著至關(guān)重要的地位。計算機控制小工具頭拋光技術(shù)(CCOS)以其工具頭與光學曲面吻合性好,充分利用計算機重復精度高、執(zhí)行速度快等優(yōu)勢,廣泛的應用于非球面加工當中。拋光軌跡規(guī)劃作為CCOS重要的研究方向,直接影響著非球面的加工精度與效率。因此,如何規(guī)劃出合理優(yōu)良的拋光軌跡就成為了非球面生產(chǎn)加工的關(guān)鍵。 通常分析拋光軌跡對加工精度的影響建立在二維空間基礎(chǔ)上,忽略了非球面曲率變化,三維空間變化等因素帶來的影響。為使分析拋光軌跡時考慮因素更為全面,針對CCOS的特點引入了赫茲接觸理論,提出了以軌跡產(chǎn)生去除區(qū)域分布情況評價拋光軌跡優(yōu)劣的方法。 針對回轉(zhuǎn)對稱非球面,完成了去除區(qū)域的仿真建模。分別以二次非球面和高次非球面為例,對最為常用的阿基米德螺旋線軌跡進行了仿真分析。分析結(jié)果表明,阿基米德螺旋線軌跡間去除區(qū)域接觸變化較大,不能保證良好的加工效果,并提出了重疊率的概念以量化這一變化情況。 通過建立螺旋線行距變化與重疊率的關(guān)系,提出了一種等重疊率螺旋線軌跡規(guī)劃方法,并通過仿真對比驗證了算法的有效性。通過詳細分析影響重疊率變化的因素,將非球面劃分為3種類型。針對不同類型的非球面,在同時兼顧加工精度與算法生成簡便性的前提下,給出了對應不同的螺旋線生成算法。 針對光學自由曲面,結(jié)合本課題組高精密四軸拋光機床的特點,提出了螺旋線軌跡和同心圓軌跡的優(yōu)化算法。該算法提高了拋光姿態(tài)角的穩(wěn)定性,在保證兩種軌跡類圓形特點的前提下,大幅減小了投影行距變化誤差。以自由曲面類型三反鏡為例,驗證了算法優(yōu)化效果,并進行了實際拋光加工。
【學位授予單位】:吉林大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:TH74
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