本文關鍵詞：像平面式干涉成像光譜儀光程差分析與計算

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【摘要】：像平面式干涉成像光譜儀的光程差(OPD)線性度與光譜及圖像重建精度直接相關。分析了光程差產生原理,通過分別對單個像面的正離焦及負離焦部分光程差進行討論,給出了像平面式干涉結構在單側及雙側離焦模式下的光程差表達式,并對兩者在不同波長滿足奈奎斯特條件時的光程差及其非線性殘差進行仿真,并通過實驗驗證。仿真結果表明:系統(tǒng)在兩種工作模式下的光程差非線性殘差均隨像面夾角增加而增大,單側離焦模式零級點兩側光程差不對稱,且負離焦部分殘差較小;雙側離焦模式零級點兩側光程差對稱,但非線性殘差大于前者。實驗結果表明,當工作波長較短時(如紫外),單側離焦模式負離焦部分在實際應用中可認為滿足光程差線性分布關系。
【作者單位】： 北京理工大學光電學院光電成像技術與系統(tǒng)教育部重點實驗室;北京理工大學光電學院顏色科學國家重點學科實驗室;
【基金】：公安部重點研究計劃(2010ZDYJBJLG006) 國家科技支撐計劃(2012BAK02B04)
【分類號】：TH744.1
【正文快照】： 1引言時間-空間調制型干涉成像光譜儀同時具有時間調制型光通量大及空間調制型干涉過程靜態(tài)、環(huán)境適應能力強的特點,是目前成像光譜領域研究的0611003-1熱點[1]。時間-空間調制型干涉成像光譜儀主要結構分為橫向剪切式[2]、偏振式[3]及像面平面式。由于偏振式結構應用波段受光

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本文編號：1203875