本文關(guān)鍵詞：基于X熒光涂層厚度測量的試驗研究

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【摘要】：涂層厚度的控制至關(guān)重要,如果涂層厚度沒有達到設(shè)計標準,對產(chǎn)品性能影響很大。利用實驗室儀器搭建起一套涂層測厚試驗平臺,本試驗中以銅、鐵作為試驗樣品,用油漆作為涂層。利用射線穿過物質(zhì)時的指數(shù)衰減規(guī)律I=I0e-μx,用不同涂層厚度的標準樣品進行標定以后,作出工作曲線;測量銅、鐵兩種基底上的涂層厚度,在涂層厚度介于0.01 g/cm2-0.06 g/cm2的范圍內(nèi),相關(guān)系數(shù)分別為0.992和0.995,表明此測厚方法是可行的。
【作者單位】： 南華大學核科學技術(shù)學院;四川大學制造科學與工程學院;
【分類號】：TH821.1
【正文快照】： 隨著工業(yè)上表面處理工藝的發(fā)展和提高,許多儀器的構(gòu)件以及裝飾物表面都涂上一層涂料,對涂層的厚度和涂復工藝均有一定的要求[1-2]。在涂料的檢驗過程中,涂料厚度是一項重要的控制指標,而且它也是表面工程和加工工業(yè)中質(zhì)量檢測的一個重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必備控制

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