本文關鍵詞：偏振態(tài)、相位和振幅對受激輻射損耗中損耗光焦斑的影響

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【摘要】：針對受激輻射損耗(STED)超分辨顯微術分辨率不夠高的問題,研究了損耗光偏振態(tài)、相位和振幅多種物理量對焦斑的影響,以形成半峰全寬窄的圓環(huán)形損耗光焦斑。根據Richards-Wolf矢量衍射理論,建立了偏振態(tài)、相位和偏振態(tài)作用下的損耗光焦斑模型;計算了不同偏振態(tài)、不同相位振幅調制參數下損耗光焦斑的分布情況;通過優(yōu)化各參量得到有效激發(fā)熒光的分布。計算結果表明,應用切向偏振時的損耗光焦斑半峰全寬優(yōu)于應用徑向偏振和圓偏振;相位和振幅的調制作用均能減小半峰全寬;優(yōu)化后有效激發(fā)熒光的理論半峰全寬僅為13.2nm。采用損耗光的偏振態(tài)、相位和振幅對損耗光焦斑進行整形,能夠有效減小半峰全寬,獲得較高的理論分辨率,比僅使用單一物理量的效果更好;應用切向偏振光能夠獲得高質量的損耗光焦斑和超衍射極限的分辨能力,根據不同實際情況選擇相位或振幅調制的方法可進一步提高分辨率。
【作者單位】： 中國科學院
【關鍵詞】： 超分辨率顯微術 受激輻射損耗 偏振 相位 振幅
【基金】：中科院蘇州生物醫(yī)學工程技術研究所“一三五”規(guī)劃重大突破資助項目(No.Y052031205) 蘇州市應用基礎研究計劃資助項目(No.SYG201128)
【分類號】：TH742
【正文快照】： 1引言遠場超分辨顯微技術突破了傳統(tǒng)光學衍射極限的限制,在滿足較高分辨力的同時,克服了電子顯微鏡對觀測樣品破壞程度過大的缺點,從而成為生物醫(yī)學和材料科學領域強有力的觀測手段和研究熱點[1-5]。目前,超分辨顯微術有多種類型,受激輻射損耗(Stimulated Emission Deple-tion

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本文編號：1100911