本文關(guān)鍵詞：光腔衰蕩技術(shù)測量超高反射光學元件損耗的誤差分析

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【摘要】：本文從測試腔長與初始腔長不一致、探測器耦合方式分析了連續(xù)光腔衰蕩技術(shù)測量超高反射率元件損耗的誤差。測量結(jié)果表明,在635 nm波長,常規(guī)1 000級超凈實驗室空氣損耗系數(shù)約10 ppm/m,當測試腔長比初始腔長長20 cm時,導致測試樣品損耗測量結(jié)果偏大約2 ppm。另外,當采用交流(AC)耦合方式探測CRD信號時將使衰蕩信號波形失真,通過實驗對比直流(DC)耦合和AC耦合結(jié)果,發(fā)現(xiàn)采用AC耦合將使損耗測量結(jié)果偏低約2 ppm。實驗結(jié)果與分析表明測量超高反射率元件損耗時應(yīng)保證測試腔腔長與初始腔腔長一致,并且采用足夠帶寬的直流耦合探測方式。
【作者單位】： 中國科學院光電技術(shù)研究所;電子科技大學光電信息學院;
【關(guān)鍵詞】： 光腔衰蕩 高反射率測量 空氣損耗 耦合方式
【基金】：國家自然科學基金資助項目(60878038)
【分類號】：TH74
【正文快照】： 0引言隨著鍍膜技術(shù)的快速發(fā)展,廣泛使用在高功率激光系統(tǒng)、引力波探測、激光陀螺、腔增強和腔衰蕩光譜等中的低損耗、高反射光學元件性能已大大提高,其損耗已低至幾十ppm甚至幾ppm以下。基于分光光度技術(shù)的常規(guī)檢測方法如光透射法、多次反射法等由于測量精度的限制無法準確測

【相似文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

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9 宓云，

本文編號：1004014