薄膜干涉是大學物理和光學課程中一種非常重要的光學現象,薄膜干涉可以分為等傾干涉和等厚干涉。該文針對等傾干涉條紋和牛頓環(huán)的形成原理和特點進行了分析,比較了這兩種明暗相間的同心圓環(huán)條紋的半徑和間距、條紋的級次、條紋的移動規(guī)律,得出了這兩種形狀相似而實質不同的干涉條紋的區(qū)別和聯系,有助于學生理解和掌握。 

【文章來源】：科技資訊. 2020,18(01)

【文章頁數】：2 頁

【部分圖文】：

等傾干涉示意圖

當薄膜的厚度連續(xù)增大時，光程差連續(xù)增加，因此同一位置處的干涉級會連續(xù)增大，由(6)知，條紋會越來越密，因此條紋從中心一個個向外冒出；當薄膜的厚度連續(xù)減小時，將會與上述情況相反：條紋從外向內移動并一個個陷入中心，并且條紋間距越來越疏。2 等厚干涉

【參考文獻】：
期刊論文
[1]牛頓環(huán)與等傾干涉教學中的一點體會[J]. 童元偉,顧錚,卜勝利.  大學物理. 2013(12)
[2]牛頓環(huán)與等傾干涉條紋比較[J]. 何熙起.  海南師范學院學報(自然科學版). 2006(04)
[3]談等傾干涉和等厚干涉的異同[J]. 張燕飛.  黃山學院學報. 2005(03)



本文編號：3342278