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一種抗攻擊密碼電路的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

發(fā)布時(shí)間:2017-07-28 11:26

  本文關(guān)鍵詞:一種抗攻擊密碼電路的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)


  更多相關(guān)文章: 功耗分析攻擊 功耗分析攻擊平臺(tái) 密碼電路 WDDL


【摘要】:隨著集成電路的發(fā)展,嵌入式產(chǎn)品的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。但與此同時(shí),一些應(yīng)用場(chǎng)合對(duì)嵌入式產(chǎn)品的安全性提出了很高的要求,其中,對(duì)抵抗功耗分析攻擊的要求尤為高。恒定功耗單元是抵抗功耗分析攻擊十分有效的方法,而WDDL技術(shù)因具有資源消耗低、可移植性、可設(shè)計(jì)性等特點(diǎn)而得到廣泛研究。本文重點(diǎn)研究了基于WDDL的抗功耗分析攻擊DES密碼電路的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。首先,本文介紹了功耗分析攻擊的物理基礎(chǔ),闡述了各種功耗分析攻擊技術(shù)的原理與方法,分析了現(xiàn)有的抗功耗分析攻擊措施的優(yōu)缺點(diǎn),確定了本文基于WDDL的密碼電路設(shè)計(jì)路線。其次,本文設(shè)計(jì)了基于FPGA的WDDL半定制設(shè)計(jì)流程,并在FPGA上實(shí)現(xiàn)差分布線。同時(shí),本文設(shè)計(jì)了實(shí)測(cè)功耗分析攻擊平臺(tái)對(duì)設(shè)計(jì)的抗功耗分析攻擊密碼電路進(jìn)行測(cè)試分析。最后,根據(jù)FPGA設(shè)計(jì)的成功經(jīng)驗(yàn),本文實(shí)現(xiàn)了基于SMIC-0.18um工藝的WDDL密碼電路,設(shè)計(jì)了WDDL的ASIC設(shè)計(jì)前端和后端流程,并提出交叉線的差分布線方法,提高了差分布線負(fù)載平衡效果。同時(shí),本文還設(shè)計(jì)了基于電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件的仿真功耗分析攻擊平臺(tái),對(duì)WDDL的ASIC抗功耗分析攻擊密碼電路進(jìn)行了測(cè)試評(píng)估。論文中給出了仿真和實(shí)測(cè)結(jié)果。實(shí)測(cè)結(jié)果表明,FPGA的抗攻擊DES密碼電路在50萬(wàn)條功耗軌跡下仍然未能攻破。仿真驗(yàn)證表明,攻破ASIC的抗攻擊DES密碼電路所需要的功耗軌跡數(shù)量是攻破無(wú)防護(hù)密碼電路所需要功耗軌跡數(shù)量的150倍,WDDL的DES密碼電路的抗功耗攻擊能力大幅提高。
【關(guān)鍵詞】:功耗分析攻擊 功耗分析攻擊平臺(tái) 密碼電路 WDDL
【學(xué)位授予單位】:東南大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:TN918.4
【目錄】:
  • 摘要4-5
  • ABSTRACT5-9
  • 第一章 緒論9-13
  • 1.1 論文的背景9-10
  • 1.2 國(guó)內(nèi)外的研究現(xiàn)狀10-11
  • 1.3 論文的主要工作和結(jié)構(gòu)安排11-13
  • 第二章 功耗分析攻擊理論及防護(hù)措施13-33
  • 2.1 功耗分析攻擊的物理基礎(chǔ)13-21
  • 2.1.1 功耗的基本構(gòu)成14-17
  • 2.1.1.1 靜態(tài)功耗14-15
  • 2.1.1.2 動(dòng)態(tài)功耗15-17
  • 2.1.2 功耗軌跡的統(tǒng)計(jì)特性17-21
  • 2.1.2.1 功耗軌跡的組成18
  • 2.1.2.2 單功耗點(diǎn)特性18-21
  • 2.2 功耗分析攻擊原理與技術(shù)21-25
  • 2.2.1 簡(jiǎn)單功耗分析攻擊原理21-22
  • 2.2.2 差分功耗分析攻擊原理22-23
  • 2.2.3 相關(guān)系數(shù)功耗分析攻擊原理23-25
  • 2.3 功耗分析攻擊防護(hù)技術(shù)25-31
  • 2.3.1 掩碼技術(shù)25-28
  • 2.3.1.1 布爾掩碼與算術(shù)掩碼25
  • 2.3.1.2 架構(gòu)級(jí)掩碼技術(shù)25-27
  • 2.3.1.3 元件級(jí)掩碼技術(shù)27-28
  • 2.3.2 隱藏技術(shù)28-31
  • 2.3.2.1 隨機(jī)化功耗技術(shù)29
  • 2.3.2.2 恒定功耗單元技術(shù)29-31
  • 2.4 本章小結(jié)31-33
  • 第三章 WDDL抗功耗攻擊密碼電路FPGA設(shè)計(jì)與驗(yàn)證33-63
  • 3.1 FPGA的WDDL單元庫(kù)設(shè)計(jì)33-38
  • 3.1.1 組合邏輯單元設(shè)計(jì)34-36
  • 3.1.2 時(shí)序邏輯單元設(shè)計(jì)36-38
  • 3.2 WDDL的DES密碼電路FPGA設(shè)計(jì)38-49
  • 3.2.1 DES算法設(shè)計(jì)38-40
  • 3.2.2 DES密碼電路設(shè)計(jì)40-42
  • 3.2.3 WDDL的DES密碼電路設(shè)計(jì)42-47
  • 3.2.4 FPGA復(fù)制差分布線方法實(shí)現(xiàn)47-49
  • 3.3 FPGA實(shí)測(cè)功耗攻擊平臺(tái)設(shè)計(jì)49-58
  • 3.3.1 功耗軌跡采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)49-55
  • 3.3.1.1 采樣電路設(shè)計(jì)50-51
  • 3.3.1.2 示波器的配置51-52
  • 3.3.1.3 采樣系統(tǒng)上位機(jī)軟件設(shè)計(jì)52-55
  • 3.3.2 功耗軌跡預(yù)處理算法設(shè)計(jì)55-56
  • 3.3.2.1 功耗軌跡對(duì)齊算法設(shè)計(jì)55
  • 3.3.2.2 功耗軌跡壓縮算法設(shè)計(jì)55-56
  • 3.3.3 功耗攻擊模型的建立56
  • 3.3.4 實(shí)測(cè)平臺(tái)功耗攻擊結(jié)果56-58
  • 3.4 FPGA的抗攻擊DES密碼電路抗攻擊能力測(cè)試與分析58-61
  • 3.4.1 CPA攻擊測(cè)試參數(shù)設(shè)置與測(cè)試過程58-59
  • 3.4.2 CPA攻擊測(cè)試結(jié)果59-60
  • 3.4.3 功耗攻擊測(cè)試結(jié)果分析60-61
  • 3.5 本章小結(jié)61-63
  • 第四章 WDDL抗功耗攻擊密碼電路ASIC設(shè)計(jì)與驗(yàn)證63-93
  • 4.1 WDDL的ASIC庫(kù)單元設(shè)計(jì)63-71
  • 4.1.1 組合邏輯單元設(shè)計(jì)63-65
  • 4.1.2 時(shí)序邏輯單元設(shè)計(jì)65-66
  • 4.1.3 基于SMIC-0.18um工藝的WDDL單元功耗平衡性分析66-70
  • 4.1.4 單元面積與功耗開銷70-71
  • 4.2 WDDL的DES密碼電路ASIC設(shè)計(jì)71-83
  • 4.2.1 基于WDDL的半定制電路設(shè)計(jì)方法71-75
  • 4.2.2 差分布線技術(shù)75-83
  • 4.2.2.1 差分布線的意義75-76
  • 4.2.2.2 基于Galaxy Custom Router的差分布線方法實(shí)現(xiàn)76-77
  • 4.2.2.3 復(fù)制差分布線方法實(shí)現(xiàn)77-80
  • 4.2.2.4 復(fù)制方法產(chǎn)生的毛刺問題及其解決方法80-82
  • 4.2.2.5 差分布線效果對(duì)比82-83
  • 4.3 基于EDA軟件的ASIC仿真功耗攻擊平臺(tái)設(shè)計(jì)83-88
  • 4.3.1 目標(biāo)工藝庫(kù)的功耗模型83-85
  • 4.3.2 EDA軟件介紹85
  • 4.3.3 基于仿真的功耗攻擊平臺(tái)工作流程85-86
  • 4.3.4 無(wú)防護(hù)DES密碼電路的仿真功耗攻擊結(jié)果86-88
  • 4.4 ASIC的抗攻擊DES密碼電路抗功耗攻擊能力測(cè)試與分析88-92
  • 4.4.1 CPA攻擊測(cè)試參數(shù)設(shè)置與測(cè)試過程88-89
  • 4.4.2 CPA攻擊測(cè)試結(jié)果89-90
  • 4.4.3 功耗攻擊測(cè)試結(jié)果分析與對(duì)比90-92
  • 4.5 本章小結(jié)92-93
  • 第五章 總結(jié)與展望93-95
  • 5.1 總結(jié)93-94
  • 5.2 展望94-95
  • 致謝95-97
  • 參考文獻(xiàn)97-103
  • 作者簡(jiǎn)介103

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本文編號(hào):583827

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