基于CMOS技術(shù)高增益高效率60 GHz微帶結(jié)構(gòu)片上天線研究
本文關(guān)鍵詞:基于CMOS技術(shù)高增益高效率60 GHz微帶結(jié)構(gòu)片上天線研究,,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:隨著無線通信技術(shù)和CMOS工藝技術(shù)的飛速發(fā)展,無線射頻集成電路的發(fā)展不斷涌現(xiàn)新的熱點(diǎn)研究,天線作為無線通信系統(tǒng)重要模塊,因此基于CMOS技術(shù)高性能小型化的片上天線成為聚焦,尤其是具有顯著優(yōu)點(diǎn)的60 GHz頻段吸引了廣大學(xué)者的興趣。片上天線使電路與天線集成,減少了芯片匹配模塊,提高了片上系統(tǒng)集成度,降低了封裝和布線復(fù)雜度,進(jìn)一步推進(jìn)了集成電路小型化發(fā)展。然而,低電阻率和高介電常數(shù)的硅襯底損耗和束縛使得片上天線增益和輻射效率很低。通過文獻(xiàn)調(diào)研,借鑒傳統(tǒng)天線理論,本文整理并提出了一種基于微帶結(jié)構(gòu)創(chuàng)新型解決方案,根據(jù)片上天線應(yīng)用場合,研究設(shè)計(jì)了應(yīng)用在水平空間通信和垂直空間通信的高性能60 GHz片上天線,主要研究內(nèi)容如下:首先本文調(diào)研片上天線的研究背景以及國內(nèi)外發(fā)展?fàn)顩r,對已公開發(fā)表的片上天線進(jìn)行分類整理,研究能量損耗原因,探索屏蔽硅襯底損耗方法,探索加載介質(zhì)諧振器提高增益方法,為高增益高效率片上天線設(shè)計(jì)做鋪墊。通過借鑒傳統(tǒng)天線理論,提出了解決低電阻率高介電常數(shù)硅襯底損耗的新思路,在M1金屬層采用全地板結(jié)構(gòu)降低電磁波進(jìn)入硅襯底。通過分析貼片電流分布調(diào)整貼片大小和基片大小等相關(guān)參數(shù),借助ANSOFT公司電磁場仿真軟件HFSS優(yōu)化設(shè)計(jì)了一款微帶結(jié)構(gòu)的小型化高性能片上天線。天線成功流片后,采用安捷倫矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試天線回波損耗,通過構(gòu)建絕對增益測試網(wǎng)絡(luò)測試天線的增益,并對天線測試結(jié)果和仿真結(jié)果進(jìn)行了對比和分析。為了進(jìn)一步提高天線增益,提出了在貼片天線上方加載高介電常數(shù)陶瓷介質(zhì)諧振器,形成增強(qiáng)型耦合,這在已公開發(fā)表的片上天線成果中是首次在貼片天線上方加載介質(zhì)諧振器。通過研究片上天線環(huán)境介質(zhì)諧振器與貼片天線的電磁耦合規(guī)律,得到天線結(jié)構(gòu)原型。根據(jù)整理的加載介質(zhì)諧振器高性能側(cè)射片上天線設(shè)計(jì)步驟,設(shè)計(jì)了一款60 GHz高增益高輻射效率側(cè)射片上天線。天線成功流片后,同樣采用第三章測試方法進(jìn)行測試并對比仿真結(jié)果和測試結(jié)果。由于采用八木結(jié)構(gòu)等傳統(tǒng)端射型片上天線的端射方向增益和輻射效率都很低,第五章創(chuàng)新采用加載介質(zhì)諧振器的貼片天線結(jié)構(gòu),應(yīng)用介質(zhì)諧振器與貼片天線的耦合規(guī)律,設(shè)計(jì)加工測試了一款60 GHz高性能加載介質(zhì)諧振器端射片上天線。最后,概括本文的研究成果和實(shí)際意義,并指出未來的研究方向。
【關(guān)鍵詞】:CMOS工藝技術(shù) 60 GHz 片上天線設(shè)計(jì) 貼片天線 介質(zhì)諧振器
【學(xué)位授予單位】:電子科技大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號】:TN820
【目錄】:
- 摘要5-6
- Abstract6-10
- 第一章 緒論10-23
- 1.1 基于CMOS技術(shù)毫米波集成電路研究背景10-13
- 1.1.1 片上天線的研究背景及意義10-12
- 1.1.2 60 GHz毫米波天線的研究意義12-13
- 1.2 基于CMOS技術(shù)片上天線研究現(xiàn)狀與挑戰(zhàn)13-21
- 1.2.1 硅襯底CMOS工藝的片上天線研究概述13-15
- 1.2.2 提高片上天線性能的解決方案15-18
- 1.2.3 片上天線的新挑戰(zhàn)18-21
- 1.3 本文的主要貢獻(xiàn)與創(chuàng)新21-22
- 1.4 本論文的結(jié)構(gòu)安排22-23
- 第二章 片上天線物理設(shè)計(jì)和性能設(shè)計(jì)理論23-35
- 2.1 片上天線物理設(shè)計(jì)23-26
- 2.1.1 CMOS工藝介紹23-24
- 2.1.2 片上天線版圖設(shè)計(jì)及驗(yàn)證24-26
- 2.2 天線性能設(shè)計(jì)理論26-34
- 2.2.1 介質(zhì)諧振天線設(shè)計(jì)理論26-32
- 2.2.2 微帶天線設(shè)計(jì)理論32-34
- 2.3 本章小結(jié)34-35
- 第三章 微帶結(jié)構(gòu)小型化高性能片上天線設(shè)計(jì)35-46
- 3.1 60 GHz微帶結(jié)構(gòu)片上天線性能設(shè)計(jì)35-40
- 3.1.1 工作原理35-36
- 3.1.2 天線結(jié)構(gòu)36
- 3.1.3 參數(shù)優(yōu)化36-40
- 3.2 仿真結(jié)果分析40-42
- 3.3 天線加工和測試42-45
- 3.4 本章小結(jié)45-46
- 第四章 加載介質(zhì)諧振器高性能側(cè)射片上天線設(shè)計(jì)46-58
- 4.1 天線結(jié)構(gòu)和工作原理46-47
- 4.2 天線設(shè)計(jì)步驟47-52
- 4.3 仿真結(jié)果分析52-55
- 4.4 天線加工和測試55-57
- 4.5 本章小結(jié)57-58
- 第五章 加載介質(zhì)諧振器高性能端射片上天線設(shè)計(jì)58-70
- 5.1 天線結(jié)構(gòu)和工作原理58-60
- 5.2 天線參數(shù)分析與設(shè)計(jì)60-64
- 5.3 天線仿真和測試結(jié)果分析64-69
- 5.4 本章小結(jié)69-70
- 第六章 總結(jié)與展望70-71
- 致謝71-72
- 參考文獻(xiàn)72-76
- 攻讀碩士學(xué)位期間取得的成果76-77
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