本文關(guān)鍵詞：LTE手機(jī)ESD測(cè)試及整改措施，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：靜電放電(ESD)是日常生活中造成手機(jī)出故障的常見原因之一,該文分析了LTE手機(jī)ESD產(chǎn)生的原因和帶來(lái)的危害,介紹了ESD試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和方法,并從結(jié)構(gòu)、PCB板和軟件等方面提出了整改措施。
【作者單位】： 河南省電子信息產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)院;
【關(guān)鍵詞】： 手機(jī) ESD 危害 整改
【分類號(hào)】：TN929.53
【正文快照】： 靜電是物體表面過(guò)�；虿蛔愕撵o止電荷。為了避免或減小靜電放電帶來(lái)的危害,人們可以通過(guò)在實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)物體抗靜電的能力,以此來(lái)判斷靜電抗擾度。LTE手機(jī)是4G通信時(shí)代正在逐步廣泛應(yīng)用的主要制式手機(jī)[1],本文將為大家重點(diǎn)介紹檢驗(yàn)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室LTE靜電抗擾度(ESD)測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容。1

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