本文關鍵詞：卡塞格倫天線機電綜合分析研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：反射面天線在制造、安裝和工作過程中,總會存在各種誤差,包括天線面板誤差,主副面位置誤差以及轉動誤差等,這些結構誤差會嚴重影響天線的電磁性能。在已有研究中,對這些結構誤差因素往往是分別予以考慮的。實際上,這些誤差是同時存在的,共同影響著天線的電性能。因此在天線的分析過程中,必須綜合考慮各項結構誤差對天線電性能的影響,在此基礎上對天線進行機電綜合分析。本文以卡氏天線為研究對象,對各項結構誤差予以綜合考慮,對其機電綜合分析問題進行了研究,主要內容包括:1.基于幾何光學法,提出一種考慮各項結構誤差同時影響下,天線功率方向圖的計算方法。所考慮的結構誤差包括:主面板誤差、饋源位置誤差、副面位置誤差和副面轉動誤差等。推導了各項誤差同時作用下天線功率方向圖的積分算式,給出了天線各項電性能的計算方法。2.給出了卡氏天線機電綜合仿真的實現(xiàn)流程,以及各項結構誤差的提取和計算方法。利用Ansys進行卡氏天線的建模并提取相關節(jié)點的坐標和位移信息,將其讀入到Matlab程序中,并進行各項結構誤差的計算。編寫了卡氏天線機電綜合仿真程序,可計算出各項誤差綜合作用下的天線功率方向圖和各項電性能指標,以某8m口徑卡氏天線為典型案例,進行了仿真計算。3.結合算例,分析了卡氏天線各項結構誤差之間的補償關系。當天線存在多項結構誤差時,其中某些誤差會補償另一些誤差所引起的天線電性能的下降。對各種補償關系的分析和梳理,對天線結構設計和調整具有一定參考價值。
【關鍵詞】：卡氏天線 結構誤差 RBF插值 機電綜合仿真 誤差補償
【學位授予單位】：西安電子科技大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2015
【分類號】：TN823.28
【目錄】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-11
• 符號對照表11-12
• 縮略語對照表12-15
• 第一章 緒論15-25
• 1.1 課題研究背景及意義15-16
• 1.2 反射面天線的發(fā)展現(xiàn)狀16-20
• 1.2.1 反射面天線的發(fā)展階段16-17
• 1.2.2 反射面天線的結構及類型17-18
• 1.2.3 國內外主要大型反射面天線18-20
• 1.3 反射面天線機電綜合分析的研究現(xiàn)狀20-22
• 1.4 本文工作的主要內容22-25
• 第二章 卡氏天線基本理論25-37
• 2.1 引言25
• 2.2 卡氏天線的基本原理25-30
• 2.2.1 卡氏天線的幾何特征描述25-27
• 2.2.2 卡氏天線的基本電參數(shù)27-30
• 2.3 理想反射面天線的輻射方向圖函數(shù)30-33
• 2.4 最佳吻合拋物面33-36
• 2.4.1 天線結構反射面精度計算33-35
• 2.4.2 最佳吻合拋物面吻合參數(shù)的求解35-36
• 2.5 本章小結36-37
• 第三章 卡氏天線的各項結構誤差分析37-53
• 3.1 引言37
• 3.2 各項結構誤差分析37-42
• 3.2.1 饋源位置誤差37-39
• 3.2.2 副面位置誤差39-40
• 3.2.3 副面轉動誤差40
• 3.2.4 反射面表面誤差分析40-42
• 3.3 綜合誤差引起的電性能分析42-48
• 3.3.1 綜合誤差的天線方向圖函數(shù)分析42-45
• 3.3.2 電性能分析45-48
• 3.4 誤差補償仿真分析48-51
• 3.5 本章小結51-53
• 第四章 卡氏天線的機電綜合仿真計算53-67
• 4.1 引言53
• 4.2 機電綜合分析53-55
• 4.2.1 有限元模型介紹53-54
• 4.2.2 機電綜合仿真流程54-55
• 4.3 各項結構誤差的仿真計算55-64
• 4.3.1 饋源和副面位置誤差55-56
• 4.3.2 副面轉動誤差計算56-59
• 4.3.3 反射面表面誤差計算59-64
• 4.4 綜合誤差的電性能仿真計算64-66
• 4.5 本章小結66-67
• 第五章 總結與展望67-69
• 5.1 本文主要工作67
• 5.2 今后研究展望67-69
• 致謝69-71
• 參考文獻71-75
• 作者簡介75-76

【參考文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 郭勤濤;張令彌;費慶國;;用于確定性計算仿真的響應面法及其試驗設計研究[J];航空學報;2006年01期

  本文關鍵詞：卡塞格倫天線機電綜合分析研究，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號：398784