平面相控陣如具有高增益和低副瓣特性的大角度掃描能力,則其能夠在較大范圍內(nèi)為搜索、探測(cè)、識(shí)別和跟蹤等領(lǐng)域提供更多更及時(shí)的精確信息,現(xiàn)如今無論在軍用雷達(dá)系統(tǒng)還是民用無線通信系統(tǒng)都有很好的應(yīng)用前景,因此對(duì)平面相控陣天線大角度掃描特性的研究有著重要且深遠(yuǎn)的意義。本論文結(jié)合實(shí)際的工程應(yīng)用,以平面大角度掃描相控陣天線為研究對(duì)象,基于方向圖乘積定理和相控陣基本掃描原理,從天線單元和陣列兩方面研究如何擴(kuò)大平面相控陣列的掃描范圍。創(chuàng)新性地采用方向圖可重構(gòu)準(zhǔn)微帶八木寄生振子天線單元進(jìn)行特殊旋轉(zhuǎn)平面布陣和小型化互補(bǔ)偶極子天線單元進(jìn)行常規(guī)等間距平面布陣兩種方案,來實(shí)現(xiàn)對(duì)平面相控陣一維和二維方向上的大角度掃描特性研究。研究表明所設(shè)計(jì)的兩種天線單元及其陣列在E面和H面都能夠?qū)崿F(xiàn)-70°+70°的大角度掃描,且具有增益波動(dòng)小、副瓣電平低的輻射特性。論文主要內(nèi)容包括:1、基于方向圖乘積定理和相控陣天線掃描原理,設(shè)計(jì)了一種簡(jiǎn)單電基本振子天線單元,并通過等間距平面布陣仿真得出其在E面和H面均可實(shí)現(xiàn)-70° +70°的大角度掃描,掃描過程中副瓣電平較低,但增益波動(dòng)比較大可達(dá)5dB。接著通過在電基本振子兩側(cè)添加寄生貼片設(shè)計(jì)一...

【文章頁數(shù)】：92 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
符號(hào)對(duì)照表
縮略語對(duì)照表
第一章 緒論
    1.1 研究背景及意義
    1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
    1.3 本文主要研究工作與內(nèi)容安排
第二章 相控陣?yán)碚摷捌鋺?yīng)用
    2.1 直線相控陣天線原理
    2.2 平面相控陣天線原理
    2.3 相控陣天線主要輻射特性參數(shù)
    2.4 電基本振子天線及其陣列大角度掃描特性研究
        2.4.1 電基本振子天線單元
        2.4.2 電基本振子平面陣列掃描特性研究
    2.5 寄生振子天線及其陣列大角度掃描特性研究
        2.5.1 寄生振子天線單元
        2.5.2 寄生振子平面陣列掃描特性研究
    2.6 本章小結(jié)
第三章 方向圖可重構(gòu)天線及陣列大角度掃描特性研究
    3.1 引言
    3.2 方向圖可重構(gòu)天線單元
        3.2.1 天線單元結(jié)構(gòu)及原理
        3.2.2 天線單元仿真結(jié)果與分析
    3.3 方向圖可重構(gòu)天線常規(guī)直線陣列掃描特性研究
        3.3.1 常規(guī)直線陣列E面掃描特性研究
        3.3.2 常規(guī)直線陣列H面掃描特性研究
    3.4 方向圖可重構(gòu)天線旋轉(zhuǎn)直線陣列掃描特性研究
        3.4.1 旋轉(zhuǎn)直線陣列yoz面掃描特性研究
        3.4.2 旋轉(zhuǎn)直線陣列xoz面掃面特性研究
    3.5 方向圖可重構(gòu)天線平面陣列掃描特性研究
        3.5.1 方向圖可重構(gòu)天線“單饋”平面陣列結(jié)構(gòu)
        3.5.2 方向圖可重構(gòu)天線“雙饋”平面陣列結(jié)構(gòu)
        3.5.3 方向圖可重構(gòu)平面陣列xoz面掃描特性研究
        3.5.4 方向圖可重構(gòu)平面陣列yoz面掃描特性研究
        3.5.5 方向圖可重構(gòu)平面陣列E面掃描特性研究
        3.5.6 方向圖可重構(gòu)平面陣列H面掃描特性研究
    3.6 本章小結(jié)
第四章 小型化互補(bǔ)偶極子天線及陣列大角度掃描特性研究
    4.1 引言
    4.2 互補(bǔ)偶極子天線常規(guī)設(shè)計(jì)
    4.3 互補(bǔ)偶極子天線小型化設(shè)計(jì)
    4.4 小型化互補(bǔ)偶極子天線直線陣列掃描特性研究
        4.4.1 小型化互補(bǔ)偶極子天線直線陣列E面掃描特性研究
        4.4.2 小型化互補(bǔ)偶極子天線直線陣列H面掃描特性研究
    4.5 小型化互補(bǔ)偶極子天線平面陣列掃描特性研究
        4.5.1 小型化互補(bǔ)偶極子天線平面陣列E面掃描特性研究
        4.5.2 小型化互補(bǔ)偶極子天線平面陣列H面掃描特性研究
    4.6 本章小結(jié)
第五章 總結(jié)與展望
    5.1 總結(jié)
    5.2 展望
參考文獻(xiàn)
致謝
作者簡(jiǎn)介



本文編號(hào)：3773824