地面雷達(dá)可靠性加速試驗(yàn)方法研究
發(fā)布時(shí)間:2021-09-29 08:33
目的縮短可靠性鑒定時(shí)間,降低試驗(yàn)費(fèi)用,形成工程化方法。方法以GJB 899A—2009為依據(jù),根據(jù)雷達(dá)產(chǎn)品的實(shí)際特點(diǎn),選擇合適的定時(shí)統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)方案,確定可靠性鑒定試驗(yàn)剖面。參考國內(nèi)外加速試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),運(yùn)用阿倫尼烏斯模型、Norris-Landzberg模型、疲勞累積損傷模型對(duì)可靠性鑒定試驗(yàn)剖面中溫度、溫度循環(huán)、振動(dòng)應(yīng)力水平進(jìn)行加速,分別給出溫度、溫度循環(huán)、振動(dòng)應(yīng)力加速因子計(jì)算方法,得到加速條件下的等效試驗(yàn)剖面及故障時(shí)間。結(jié)果通過可靠性加速試驗(yàn)等效剖面計(jì)算,雷達(dá)可靠性鑒定試驗(yàn)時(shí)間由1100 h等效為加速條件下367h。結(jié)論地面雷達(dá)可靠性加速試驗(yàn)方法能夠明顯縮短試驗(yàn)時(shí)間,降低試驗(yàn)成本,可以在工程中推廣應(yīng)用。
【文章來源】:裝備環(huán)境工程. 2020,17(08)
【文章頁數(shù)】:5 頁
【部分圖文】:
加速試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)流程
根據(jù)選定的試驗(yàn)方案,本次鑒定試驗(yàn)的總有效試驗(yàn)時(shí)間為:雷達(dá)的發(fā)射分機(jī)是薄弱環(huán)節(jié),自身功耗較大,因此高溫對(duì)其影響較大,整個(gè)可靠性試驗(yàn)剖面高溫時(shí)間約為持續(xù)時(shí)間的一半。發(fā)射分機(jī)的主要元件包括電阻、電容、電感、集成電路等,電子元件的失效率與元件的工作溫度有關(guān)。美國軍用手冊(cè)《HandBook of217Plus Reliability Prediction models》給出了不同元件的溫度激活能。如集成電路的溫度激活能為0.8 eV,陶瓷電容、二極管為0.3 eV,電阻的激活能為0.2 eV,電感激活能為0.47 eV。法國FIDES《Reliability Methodology for Electronic Systems》給出了不同元件的溫度應(yīng)力的激活能,如集成電路、二極管、電感、微波器件等激活能為0.7 eV,鋁電容的激活能為0.4 eV、電阻的激活能為0.15 eV,電壓轉(zhuǎn)換器的激活能為0.44 eV,光耦、DIP插座、開關(guān)、繼電器等的激活能為0.25 eV。我國GJB/Z 299C—2006《電子設(shè)備可靠性預(yù)計(jì)手冊(cè)》給出了不同元件的溫度應(yīng)力系數(shù),具體見表2。
雷達(dá)可靠性加速試驗(yàn)剖面
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]典型機(jī)載設(shè)備加速振動(dòng)試驗(yàn)應(yīng)用方法研究[J]. 錢自富,張慶軍,陳濤. 裝備環(huán)境工程. 2017(11)
[2]結(jié)構(gòu)振動(dòng)疲勞加速試驗(yàn)技術(shù)研究[J]. 蔣瑜,陶俊勇. 裝備環(huán)境工程. 2016(05)
[3]一種基于振動(dòng)應(yīng)力變換的加速試驗(yàn)方法研究[J]. 張曉潔,李政. 電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn). 2015(01)
[4]加速壽命試驗(yàn)中統(tǒng)計(jì)加速模型綜述[J]. 黃婷婷,姜同敏. 裝備環(huán)境工程. 2010(04)
[5]隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)加速因子的計(jì)算方法[J]. 王冬梅,謝勁松. 環(huán)境技術(shù). 2010(02)
本文編號(hào):3413400
【文章來源】:裝備環(huán)境工程. 2020,17(08)
【文章頁數(shù)】:5 頁
【部分圖文】:
加速試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)流程
根據(jù)選定的試驗(yàn)方案,本次鑒定試驗(yàn)的總有效試驗(yàn)時(shí)間為:雷達(dá)的發(fā)射分機(jī)是薄弱環(huán)節(jié),自身功耗較大,因此高溫對(duì)其影響較大,整個(gè)可靠性試驗(yàn)剖面高溫時(shí)間約為持續(xù)時(shí)間的一半。發(fā)射分機(jī)的主要元件包括電阻、電容、電感、集成電路等,電子元件的失效率與元件的工作溫度有關(guān)。美國軍用手冊(cè)《HandBook of217Plus Reliability Prediction models》給出了不同元件的溫度激活能。如集成電路的溫度激活能為0.8 eV,陶瓷電容、二極管為0.3 eV,電阻的激活能為0.2 eV,電感激活能為0.47 eV。法國FIDES《Reliability Methodology for Electronic Systems》給出了不同元件的溫度應(yīng)力的激活能,如集成電路、二極管、電感、微波器件等激活能為0.7 eV,鋁電容的激活能為0.4 eV、電阻的激活能為0.15 eV,電壓轉(zhuǎn)換器的激活能為0.44 eV,光耦、DIP插座、開關(guān)、繼電器等的激活能為0.25 eV。我國GJB/Z 299C—2006《電子設(shè)備可靠性預(yù)計(jì)手冊(cè)》給出了不同元件的溫度應(yīng)力系數(shù),具體見表2。
雷達(dá)可靠性加速試驗(yàn)剖面
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]典型機(jī)載設(shè)備加速振動(dòng)試驗(yàn)應(yīng)用方法研究[J]. 錢自富,張慶軍,陳濤. 裝備環(huán)境工程. 2017(11)
[2]結(jié)構(gòu)振動(dòng)疲勞加速試驗(yàn)技術(shù)研究[J]. 蔣瑜,陶俊勇. 裝備環(huán)境工程. 2016(05)
[3]一種基于振動(dòng)應(yīng)力變換的加速試驗(yàn)方法研究[J]. 張曉潔,李政. 電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn). 2015(01)
[4]加速壽命試驗(yàn)中統(tǒng)計(jì)加速模型綜述[J]. 黃婷婷,姜同敏. 裝備環(huán)境工程. 2010(04)
[5]隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)加速因子的計(jì)算方法[J]. 王冬梅,謝勁松. 環(huán)境技術(shù). 2010(02)
本文編號(hào):3413400
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