通過對(duì)空間輻射環(huán)境中PIN光探測(cè)器損傷機(jī)理的分析,得到了光電流與暗電流在輻照條件下的變化規(guī)律.在此基礎(chǔ)上,建立了基于PIN光探測(cè)器空間輻射效應(yīng)的衛(wèi)星光通信系統(tǒng)誤碼率模型.仿真得出,輻照強(qiáng)度約為5×104 Gy和8×104 Gy時(shí),50MeV質(zhì)子和10MeV質(zhì)子輻照條件下的系統(tǒng)誤碼率先后達(dá)到10-6;在5×105 Gy⁶×105 Gy范圍內(nèi),電子與Gamma射線輻照下的誤碼率亦達(dá)到10-6.結(jié)合系統(tǒng)誤碼率的損傷機(jī)理,進(jìn)一步研究了判決閾值對(duì)誤碼率的影響.結(jié)果表明,輻照強(qiáng)度為1MGy時(shí),判決閾值由4.3×10-7 A上升至5.5×10-7 A,能夠使誤碼率降低近3個(gè)量級(jí).因此,適當(dāng)選取判決閾值能夠有效的改善系統(tǒng)誤碼率情況. 

【文章來源】：光子學(xué)報(bào). 2014,43(S1)北大核心EICSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 PIN探測(cè)器空間電離輻射損傷機(jī)理
2 衛(wèi)星光通信系統(tǒng)誤碼率模型
3 仿真與分析
4 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號(hào)：3251526