由于基于最壞情況困難假設(shè)等優(yōu)點,基于格的密碼被認(rèn)為是最具前景的抗量子密碼研究方向。作為格密碼的常用的兩個主要困難問題之一,含錯學(xué)習(xí)（LWE）問題被廣泛用于密碼算法的設(shè)計。為了提高格密碼算法的性能,Zhang等人（2019）提出了非對稱含錯學(xué)習(xí)問題,該文將從理論上詳細(xì)研究非對稱含錯學(xué)習(xí)問題和標(biāo)準(zhǔn)含錯學(xué)習(xí)問題關(guān)系,并證明在特定錯誤分布下非對稱含錯學(xué)習(xí)問題和含錯學(xué)習(xí)問題是多項式時間等價的,從而為基于非對稱含錯學(xué)習(xí)問題設(shè)計安全的格密碼算法奠定了理論基礎(chǔ)。 

【文章來源】：電子與信息學(xué)報. 2020,42(02)北大核心EICSCD

【文章頁數(shù)】：6 頁

【部分圖文】：

高斯分布和二項分布


本文編號：3222652