超寬帶低剖面全向天線及超寬帶陣列天線的研究與設(shè)計(jì)
【學(xué)位授予單位】:西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號(hào)】:TN820
【圖文】:
陣列排列圖 (b) E 面陣列排文獻(xiàn)[17]中的天線陣列排列圖單元之間的強(qiáng)耦合效應(yīng)設(shè)計(jì)超寬帶陣列。文線,該天線采用雙面印刷 Vivaldi 單元,在漸高次模,并且在陣列單元邊緣處加載短路單設(shè)計(jì)具有強(qiáng)耦合作用的天線單元,最終使陣好的阻抗匹配。
表的文獻(xiàn)[20]中提出一種用于嵌入式安裝應(yīng)用的超寬線。文章中通過將 E 面中的陣列邊緣元件連接到背腔于天線性能的有害影響。如圖 1.10 所示,該陣列天線為列 3 個(gè)陣元,H 面為 4 個(gè)陣元,使用全金屬印刷技術(shù),在 VSWR 2,增益大于 5dB,并且具有方向圖對(duì)稱性好
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【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2768444
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