本文選題：旁路攻擊 + 密鑰恢復(fù)��； 參考：《華中科技大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版)》2014年12期

【摘要】：為了降低現(xiàn)有內(nèi)部模板攻擊的數(shù)據(jù)復(fù)雜度并提高攻擊成功率,提出了一種內(nèi)部模板攻擊改進(jìn)算法.對(duì)內(nèi)部模板攻擊算法進(jìn)行了兩點(diǎn)改進(jìn):一是在模板匹配分析階段,提出了一種基于等級(jí)相關(guān)性的模板匹配策略,利用功耗曲線電壓值的相對(duì)排名,提高了單個(gè)密鑰片段恢復(fù)的局部成功率;二是在密鑰恢復(fù)階段,提出了一種基于校驗(yàn)方程的密鑰恢復(fù)方法,利用冗余信息來修正猜測(cè)多個(gè)密鑰片段的概率分布,提高了多密鑰片段恢復(fù)的全局成功率.以8位微控制器上的LED(輕型加密設(shè)備)密碼功耗旁路分析為例,開展了攻擊驗(yàn)證實(shí)驗(yàn).結(jié)果表明:改進(jìn)后的算法提高了匹配的區(qū)分度,降低了攻擊所需功耗曲線數(shù)量,僅需要50條功耗曲線即可使攻擊的全局成功概率接近100%.
[Abstract]:In order to reduce the data complexity of existing internal template attacks and improve the success rate of attacks, an improved algorithm for internal template attacks is proposed. Two improvements are made to the internal template attack algorithm. Firstly, in the template matching analysis stage, a template matching strategy based on hierarchical correlation is proposed, which uses the relative ranking of the voltage value of the power consumption curve. The local success rate of single key fragment restoration is improved. Secondly, a key recovery method based on check equation is proposed, which uses redundant information to correct the probability distribution of guessing multiple key fragments. The global success rate of multi-key fragment recovery is improved. Taking LED (Light encryption device) cipher power bypass analysis on 8-bit microcontroller as an example, the attack verification experiment is carried out. The results show that the improved algorithm improves the matching degree and reduces the number of power curves required for attack. Only 50 power curves are required to make the global success probability of the attack close to 100.
【作者單位】： 北京郵電大學(xué)電子工程學(xué)院;北方電子設(shè)備研究所;
【基金】：國(guó)家重點(diǎn)基礎(chǔ)研究發(fā)展計(jì)劃資助項(xiàng)目(2013CB338004) 國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(61173191,61272491,61309021,61472357)
【分類號(hào)】：TN918.4

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1943453