本文關(guān)鍵詞：基于時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù)的密碼芯片光輻射分析

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【摘要】：密碼芯片運行時的光輻射可泄露其操作和數(shù)據(jù)的重要特征信息.基于單光子探測技術(shù),設(shè)計并構(gòu)建了針對CMOS半導(dǎo)體集成電路芯片光輻射信號的采集、傳輸、處理和分析的光電實驗系統(tǒng).以AT89C52單片機(jī)作為實驗對象,采用時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù),對不同工作電壓下密碼芯片的光輻射強(qiáng)度進(jìn)行了對比,分析了芯片指令級光輻射信息的操作依賴性和數(shù)據(jù)依賴性.此外,使用示波器對時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù)在芯片光輻射分析上的可行性進(jìn)行了驗證.實驗結(jié)果表明,采用時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù)對密碼芯片進(jìn)行光輻射分析,是一種直接有效的中低等代價光旁路分析攻擊手段,對密碼芯片的安全構(gòu)成了嚴(yán)重的現(xiàn)實威脅.
【作者單位】： 軍械工程學(xué)院信息工程系;中國科學(xué)院物理研究所 北京凝聚態(tài)物理國家實驗室;河北師范大學(xué);
【基金】：國家自然科學(xué)基金(批準(zhǔn)號:51377170) 國家高技術(shù)研究發(fā)展計劃(批準(zhǔn)號:2011AA120102) 河北省自然科學(xué)基金(批準(zhǔn)號:F2012506008)資助的課題~~
【分類號】：TN918.2
【正文快照】： 密碼芯片運行時的光輻射可泄露其操作和數(shù)據(jù)的重要特征信息.基于單光子探測技術(shù),設(shè)計并構(gòu)建了針對CMOS半導(dǎo)體集成電路芯片光輻射信號的采集、傳輸、處理和分析的光電實驗系統(tǒng).以AT89C52單片機(jī)作為實驗對象,采用時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù),對不同工作電壓下密碼芯片的光輻射強(qiáng)度進(jìn)

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中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 司馬博羽;光子計數(shù)激光三維成像系統(tǒng)設(shè)計和實現(xiàn)[D];南京理工大學(xué);2013年

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本文編號：1144646