本文關(guān)鍵詞：平臺(tái)運(yùn)動(dòng)測(cè)量誤差對(duì)陣列天線合成孔徑雷達(dá)三維成像影響分析

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【摘要】：陣列天線合成孔徑雷達(dá)(SAR)可實(shí)現(xiàn)3維成像。為了提高成像質(zhì)量,使用測(cè)量設(shè)備獲取平臺(tái)的運(yùn)動(dòng)信息以進(jìn)行運(yùn)動(dòng)補(bǔ)償,而測(cè)量誤差會(huì)影響補(bǔ)償及成像質(zhì)量,需對(duì)其進(jìn)行分析。該文首先建立了陣列天線SAR 3維成像模型和測(cè)量誤差分析模型,接著分別從位置和姿態(tài)角兩個(gè)方面分析了測(cè)量誤差對(duì)相位誤差的影響,并比較不同方向誤差影響的大小,然后通過仿真分析了誤差對(duì)成像指標(biāo)的影響,并引入姿態(tài)誤差基線比來量化姿態(tài)角誤差的影響。最后得出高程向和橫滾角測(cè)量誤差影響最大的結(jié)論,給出了限定要求下測(cè)量誤差的容忍值。該文的結(jié)論為測(cè)量設(shè)備的選取和設(shè)計(jì)以及成像和補(bǔ)償方法的選擇和分析提供了理論指導(dǎo)和參考。
【作者單位】： 中國科學(xué)院電子學(xué)研究所;微波成像技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;中國科學(xué)院大學(xué);
【基金】：國家自然科學(xué)基金(61372186)資助課題
【分類號(hào)】：TN957.52
【正文快照】： 2(微波成像技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室北京100190)3(中國科學(xué)院大學(xué)北京100190)1引言陣列天線合成孔徑雷達(dá)(SAR)通過航跡向合成孔徑、跨航向等效為線性均勻陣列和波傳播方向的寬帶信號(hào)實(shí)現(xiàn)3維分辨[1,2],廣泛應(yīng)用于城市測(cè)繪、災(zāi)害監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域[3]。陣列天線SAR一般工作在波分國家自然科學(xué)基

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本文編號(hào)：1143974