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SerDes中時鐘數(shù)據(jù)恢復電路的設計與驗證

發(fā)布時間:2017-10-19 03:40

  本文關鍵詞:SerDes中時鐘數(shù)據(jù)恢復電路的設計與驗證


  更多相關文章: SerDes 時鐘數(shù)據(jù)恢復 相位插值 抖動容限 系統(tǒng)級仿真


【摘要】:隨著科技的發(fā)展,處理器的運算量、運算速度都有很大的提升,提升數(shù)據(jù)的傳輸速度和質量成為了提升系統(tǒng)整體性能的重要途徑,而I/O技術中過去常用的并行接口技術成為了這一趨勢的主要瓶頸之一。為了解決這一問題,以往主要用于光纖通信的串行通信技術——SerDes已經(jīng)逐漸取代傳統(tǒng)并行總線,將成為主流的高速接口技術。SerDes電路的核心是時鐘數(shù)據(jù)恢復(CDR)電路,即從輸入數(shù)據(jù)流中分離出時鐘和數(shù)據(jù)信號,消除傳輸過程中帶來的抖動和失真,將數(shù)據(jù)解串后送入后續(xù)的電路。時鐘數(shù)據(jù)恢復電路的性能決定了整個SerDes電路的性能,本文將對CDR電路的原理、設計、系統(tǒng)級仿真和版圖設計進行研究,設計了一款基于0.13μm 1P8M CMOS工藝的CDR電路,采用了基于相位插值的結構,優(yōu)于傳統(tǒng)基于鎖相環(huán)結構,解決了后者的帶寬折中問題。設計中采用了大量的數(shù)字電路來實現(xiàn),降低了對工藝的高依賴度和敏感度。本文主要研究的內(nèi)容包括:(1)時鐘數(shù)據(jù)恢復電路的性能衡量標準,通過研究抖動傳輸函數(shù)和抖動產(chǎn)生,了解到抖動容限是CDR電路的重要性能指標;(2)采用相位插值結構分模塊設計電路,并對各個模塊分別進行了仿真。其中,相位插值單元是關鍵的模塊,本文介紹了基于相位插值單元的CDR電路各個模塊的數(shù)學模型,并進行了詳細的電路分析;(3)建立了抖動模型,研究時鐘相位隨數(shù)據(jù)抖動的變化。使用Verilog-A程序實現(xiàn)了PRBS序列的生成,并將其作為輸入CDR系統(tǒng)測試抖動容限的測試數(shù)據(jù)。通過系統(tǒng)級仿真,測出了本設計的抖動容限。(4)對影響版圖性能的因素進行了分析,并介紹了解決天線效應、閂鎖效應等不良影響的方法,闡述了版圖設計的注意事項,并給出了本設計方案的版圖。設計的目標為抖動容限小于0.4UI,功耗低于500mW。采用本設計方案的電路性能完全滿足以上指標。
【關鍵詞】:SerDes 時鐘數(shù)據(jù)恢復 相位插值 抖動容限 系統(tǒng)級仿真
【學位授予單位】:電子科技大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:TN919.3
【目錄】:
  • 摘要5-6
  • abstract6-11
  • 第一章 緒論11-16
  • 1.1 本課題的背景及研究意義11-13
  • 1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀13-14
  • 1.3 本文研究內(nèi)容及結構安排14-16
  • 第二章 CDR概述16-34
  • 2.1 串行收發(fā)系統(tǒng)及時鐘結構16-18
  • 2.2 時鐘數(shù)據(jù)恢復的基本原理18-19
  • 2.3 時鐘數(shù)據(jù)恢復電路性能的衡量標準19-27
  • 2.3.1 速度19-20
  • 2.3.2 抖動與相位噪聲20-21
  • 2.3.3 抖動傳輸函數(shù)21-23
  • 2.3.4 抖動容限23-25
  • 2.3.5 抖動產(chǎn)生25
  • 2.3.6 眼圖25-26
  • 2.3.7 誤碼率26-27
  • 2.4 時鐘數(shù)據(jù)恢復電路的基本結構27-33
  • 2.4.1 基于PLL的CDR27-30
  • 2.4.2 基于PI的CDR30-31
  • 2.4.3 脈沖注入鎖定式CDR31-32
  • 2.4.4 過采樣CDR32
  • 2.4.5 基于門電路環(huán)振的CDR[12]32-33
  • 2.5 本章小結33-34
  • 第三章 CDR電路的設計34-57
  • 3.1 基于PI結構的CDR設計34-39
  • 3.1.1 基于PI結構的CDR電路總體結構34-35
  • 3.1.2 CDR電路分析35-39
  • 3.2 CDR環(huán)路相位傳遞函數(shù)和抖動容限39-40
  • 3.3 CDR系統(tǒng)設計40-55
  • 3.3.1 相位檢測電路(PD)42-47
  • 3.3.2 相位插值電路47-52
  • 3.3.3 相位捕獲環(huán)路中的數(shù)字電路模塊52-55
  • 3.4 本章小結55-57
  • 第四章 CDR電路系統(tǒng)級仿真57-74
  • 4.1 CDR仿真模型的建立58-61
  • 4.1.1 CDR仿真模塊的構成58
  • 4.1.2 CDR的輸入管腳和所加激勵58-61
  • 4.2 CDR輸入數(shù)據(jù)的抖動模型61-69
  • 4.2.1 PRBS序列概述61
  • 4.2.2 產(chǎn)生抖動數(shù)據(jù)的模型原理61-63
  • 4.2.3 抖動數(shù)據(jù)的具體實現(xiàn)與觀測63-69
  • 4.3 CDR輸入數(shù)據(jù)的抖動仿真69-71
  • 4.3.1 時鐘相位隨數(shù)據(jù)抖動的變化69-70
  • 4.3.2 CDR抖動仿真結果70-71
  • 4.4 CDR誤碼判斷方法71-72
  • 4.5 CDR的抖動容限仿真結果72-73
  • 4.6 本章小結73-74
  • 第五章 全電路版圖設計74-85
  • 5.1 版圖設計中關鍵因素的考慮74-80
  • 5.1.1 天線效應74-76
  • 5.1.2 器件的匹配76-77
  • 5.1.3 閂鎖效應77-80
  • 5.2 SerDes版圖設計80-84
  • 5.2.1 布圖規(guī)劃80-81
  • 5.2.2 電源線規(guī)劃81-82
  • 5.2.3 版圖實現(xiàn)82-84
  • 5.3 本章小結84-85
  • 第六章 總結與展望85-87
  • 6.1 總結85
  • 6.2 對未來工作的展望85-87
  • 致謝87-88
  • 參考文獻88-90
  • 攻讀碩士期間取得的研究成果90-91

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