本文關(guān)鍵詞：一種用于測試數(shù)據(jù)壓縮的自適應(yīng)EFDR編碼方法

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【摘要】：該文提出一種用于測試數(shù)據(jù)壓縮的自適應(yīng)EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)編碼方法。該方法以EFDR編碼為基礎(chǔ),增加了一個用于表示后綴與前綴編碼長度差值的參數(shù)N,對測試集中的每個測試向量,根據(jù)其游程分布情況,選擇最合適的N值進行編碼,提高了編碼效率。在解碼方面,編碼后的碼字經(jīng)過簡單的數(shù)學(xué)運算即可恢復(fù)得到原測試數(shù)據(jù)的游程長度,且不同N值下的編碼碼字均可使用相同的解碼電路來解碼,因此解碼電路具有較小的硬件開銷。對ISCAS-89部分標準電路的實驗結(jié)果表明,該方法的平均壓縮率達到69.87%,較原EFDR編碼方法提高了4.07%。
【作者單位】： 湖南大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 測試數(shù)據(jù)壓縮 EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)編碼 自適應(yīng)EFDR編碼 解碼
【基金】：國家自然科學(xué)基金(61472123,60673085)~~
【分類號】：TN911.2
【正文快照】： 1引言測試成本的迅速增長是目前集成電路設(shè)計制造中的一個主要問題。一方面,隨著特征尺寸的減小,集成電路中所包含的IP核與集成的邏輯門數(shù)量增多,使得所需測試數(shù)據(jù)規(guī)模增大;而另一方面,自動測試儀(ATE)的工作頻率、I/O通道數(shù)目、傳輸帶寬、存儲能力卻增長有限。兩者之間的矛盾

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本文編號：1005233