利用 25 Al(p,p) 25 Al共振散射研究關(guān)鍵天體反應(yīng) 22 Mg(α,p) 25 Al
發(fā)布時間:2021-08-14 15:35
本實驗通過25Al+p共振彈性散射實驗對X射線暴過程中一個重要的核天體反應(yīng)22Mg(α,p)25Al進行了間接測量。X射線暴是X射線雙星系統(tǒng)中X射線突然增強很多倍的現(xiàn)象,其核過程包括3α反應(yīng)、αp突破過程以及rp過程等。而αp過程中所有(α,p)反應(yīng)的反應(yīng)率都直接影響著X射線暴光變曲線的上升時間甚至光變曲線的整體形狀。Cyburt X射線暴模型計算結(jié)果顯示,在所有的(α,p)突破反應(yīng)中,22Mg(α,p)25Al反應(yīng)率的不確定性對X射線暴光變曲線的影響最大。然后到目前為止,22Mg(α,p)25Al反應(yīng)的實驗數(shù)據(jù)嚴(yán)重缺失;而且現(xiàn)今所有X射線暴理論模型中所采用的反應(yīng)率都是由統(tǒng)計模型給出的。因此,這個關(guān)鍵核反應(yīng)的研究,對于理解爆發(fā)性天體環(huán)境中的能量產(chǎn)生和核合成具有重要的核天體物理意義。本實驗是在東京大學(xué)原子核研究中心位于RIKEN的次級束裝置CRIB(CNS Radioactive Ion Beam separator)上完成。實驗中,我...
【文章來源】:中國科學(xué)院大學(xué)(中國科學(xué)院近代物理研究所)甘肅省
【文章頁數(shù)】:97 頁
【學(xué)位級別】:博士
【部分圖文】:
I型X射線暴過程中的核反應(yīng)鏈
Matic等得到的22Mg(,p)
第 1 章 引言這里需要指出, 是反應(yīng)率計算中最關(guān)鍵的物理量,但由于庫倫位其值往往很小,是最難探測的物理量。人們通常的做法是,利用 R-Mat共振散射實驗數(shù)據(jù)進行分析,找出對22Mg( ,p)25Al 反應(yīng)有貢獻的能倫能差公式找到26Si 鏡像核26Mg 相應(yīng)的鏡像態(tài),通過鏡像態(tài)約化 原理,反演出26Si 相應(yīng)能級的 ,從而進行反應(yīng)率的計算。綜上所述,22Mg( ,p)25Al 反應(yīng)的實驗研究極度缺乏,對其已開展的由于研究方法自身的不完整性,導(dǎo)致得到的反應(yīng)率不確定度極大。直于實驗技術(shù)的困難,無法開展。25Al+p 共振散射實驗研究可以在之前上,更進一步,確定共振強度,得到可靠的反應(yīng)率。通過與統(tǒng)計模型統(tǒng)計模型的適用性,并利用 X 射線暴模型確定22Mg( ,p)25Al 反應(yīng)對影響。
【參考文獻】:
期刊論文
[1]17F+p共振態(tài)彈性散射實驗中PPAC性能測試[J]. 馬朋,魯辰桂,王建松,段利敏,耿朋,唐述文,魯皖,梅波,嚴(yán)鑫帥,胡正國,張雪熒,楊彥云,李祖玉,張金霞. 原子能科學(xué)技術(shù). 2011(03)
本文編號:3342726
【文章來源】:中國科學(xué)院大學(xué)(中國科學(xué)院近代物理研究所)甘肅省
【文章頁數(shù)】:97 頁
【學(xué)位級別】:博士
【部分圖文】:
I型X射線暴過程中的核反應(yīng)鏈
Matic等得到的22Mg(,p)
第 1 章 引言這里需要指出, 是反應(yīng)率計算中最關(guān)鍵的物理量,但由于庫倫位其值往往很小,是最難探測的物理量。人們通常的做法是,利用 R-Mat共振散射實驗數(shù)據(jù)進行分析,找出對22Mg( ,p)25Al 反應(yīng)有貢獻的能倫能差公式找到26Si 鏡像核26Mg 相應(yīng)的鏡像態(tài),通過鏡像態(tài)約化 原理,反演出26Si 相應(yīng)能級的 ,從而進行反應(yīng)率的計算。綜上所述,22Mg( ,p)25Al 反應(yīng)的實驗研究極度缺乏,對其已開展的由于研究方法自身的不完整性,導(dǎo)致得到的反應(yīng)率不確定度極大。直于實驗技術(shù)的困難,無法開展。25Al+p 共振散射實驗研究可以在之前上,更進一步,確定共振強度,得到可靠的反應(yīng)率。通過與統(tǒng)計模型統(tǒng)計模型的適用性,并利用 X 射線暴模型確定22Mg( ,p)25Al 反應(yīng)對影響。
【參考文獻】:
期刊論文
[1]17F+p共振態(tài)彈性散射實驗中PPAC性能測試[J]. 馬朋,魯辰桂,王建松,段利敏,耿朋,唐述文,魯皖,梅波,嚴(yán)鑫帥,胡正國,張雪熒,楊彥云,李祖玉,張金霞. 原子能科學(xué)技術(shù). 2011(03)
本文編號:3342726
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