<正>電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)是顯微結(jié)構(gòu)、構(gòu)造領(lǐng)域一項嶄新的技術(shù),它與掃描電子顯微鏡設(shè)備和分析系統(tǒng)相結(jié)合,可以對固體樣品中微米或納米級尺度的顆粒進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析。該技術(shù)在目前已經(jīng)發(fā)展到成熟階段,在材料學(xué)、金相領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。但是在對于透明礦物的分析,目前處于發(fā)展

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【文章目錄】：
1 電子背散射衍射技術(shù)原理
2 電子背散射衍射實驗過程及數(shù)據(jù)分析
    2.1 采集條件
    2.2 區(qū)域選擇
    2.3 取向分析
3 纖維狀方解石生長機(jī)制探討



本文編號：3759147