【摘要】：根據(jù)條紋色彩的變化確定等差線級數(shù),是一種普遍應(yīng)用的白光光彈方法。另一種具有較高的精度、操作簡便,被廣泛應(yīng)用的光彈技術(shù)是相移法。由于色彩特征變?nèi)?白光光彈用于辨識三級以下的等差線條紋。相移法得到的等差線都是包裹的相位,并非等差級數(shù),解包裹等差線也是一項復(fù)雜的工作。根據(jù)受力構(gòu)件中應(yīng)力是連續(xù)變化的性質(zhì),將白光光彈和相移技術(shù)相結(jié)合,得到一種解包裹全場等差線的新方法。所述的解包裹方法不依賴于零級條紋,不需要確定零級條紋。最后通過分析徑向受壓的圓盤,演示了解包裹的新方法。
【作者單位】： 上海理工大學(xué)光電信息與計算機(jī)工程學(xué)院;
【基金】：上海市研究生創(chuàng)新基金項目(JWCXSL1301)資助~~
【分類號】：O348.1

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本文編號：2533335