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可重構(gòu)處理器的功能改進與EJTAG設(shè)計

發(fā)布時間:2017-09-22 15:33

  本文關(guān)鍵詞:可重構(gòu)處理器的功能改進與EJTAG設(shè)計


  更多相關(guān)文章: 集成電路 調(diào)試方法學 可重專用構(gòu)處理器 片上調(diào)試 EJTAG 功能完善


【摘要】:隨著集成電路技術(shù)的快速發(fā)展,芯片系統(tǒng)的規(guī)模越來越大,芯片系統(tǒng)的調(diào)試問題也變得越來越復(fù)雜和關(guān)鍵;谛酒到y(tǒng)的調(diào)試方法學經(jīng)過二十多年的發(fā)展,已經(jīng)在芯片設(shè)計領(lǐng)域占據(jù)舉足輕重的地位。根據(jù)芯片和應(yīng)用場景的不同,調(diào)試方法學可以劃分為幾個不同的種類,主要包括軟件仿真調(diào)試、在線仿真調(diào)試和片上調(diào)試這三種調(diào)試方法。隨著片上系統(tǒng)的時鐘頻率不斷提高,結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜,以及多核技術(shù)的不斷發(fā)展,調(diào)試方法學的發(fā)展面臨著重大的挑戰(zhàn)和廣闊的發(fā)展空間。本論文介紹了一款可重構(gòu)專用處理器,通過粗粒度的靜態(tài)配置方式改變基本運算單元的拓撲結(jié)構(gòu)和互連關(guān)系,以資源復(fù)用的方式實現(xiàn)多種算法類型的硬件加速;诖丝芍貥(gòu)處理器完成EJTAG片上調(diào)試功能的設(shè)計實現(xiàn),包括EJTAG接口的設(shè)計和內(nèi)嵌調(diào)試模塊的設(shè)計。通過EJTAG接口串行輸入或輸出數(shù)據(jù)和指令,內(nèi)嵌調(diào)試模塊解析調(diào)試指令,實現(xiàn)硬件斷點和內(nèi)存讀寫操作。除此之外,本文對現(xiàn)有版本的可重構(gòu)處理器的一些功能上的缺陷作出了相應(yīng)的完善,并通過實驗進行了所有功能的驗證。本論文的主要貢獻有:1.在可重構(gòu)處理內(nèi)部實現(xiàn)了EJTAG內(nèi)嵌調(diào)試模塊,并在TMSC 40nm工藝下流片,經(jīng)測試功能符合設(shè)計要求;2.對現(xiàn)有版本的可重構(gòu)專用處理器做了一些優(yōu)化使其性能有所提高,主要有以下三點:首先,更改了RASP作為主設(shè)備時的取指方式,加快了取指的效率;其次,增加一個運算異常中斷信號,提高了查錯效率;最后,在工作方式上增加一個直通模式,便于檢測DMA通道的正確性。
【關(guān)鍵詞】:集成電路 調(diào)試方法學 可重專用構(gòu)處理器 片上調(diào)試 EJTAG 功能完善
【學位授予單位】:南京大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:TP332
【目錄】:
  • 摘要4-6
  • Abstract6-14
  • 第一章 緒論14-21
  • 1.1 課題背景14
  • 1.2 調(diào)試技術(shù)的發(fā)展14-19
  • 1.2.1 軟件模擬調(diào)試15
  • 1.2.2 ICE調(diào)試15-16
  • 1.2.3 OCD調(diào)試16-19
  • 1.3 課題來源19
  • 1.4 論文組織結(jié)構(gòu)19-21
  • 第二章 可重構(gòu)專用處理器核介紹21-36
  • 2.1 可重構(gòu)處理器整體架構(gòu)及功能概述21-24
  • 2.2 RASP內(nèi)部主要組成模塊介紹24-31
  • 2.2.1 主控制器24-26
  • 2.2.2 重構(gòu)控制器26-27
  • 2.2.3 可重構(gòu)計算陣列27-28
  • 2.2.4 存儲器分配28-29
  • 2.2.5 AXI接口模塊29-30
  • 2.2.6 DMA30-31
  • 2.3 RASP核工作方式31-32
  • 2.4 RASP核重構(gòu)實現(xiàn)流程32-35
  • 2.5 本章小結(jié)35-36
  • 第三章 邊界掃描測試技術(shù)(JTAG)36-47
  • 3.1 JTAG簡介36
  • 3.2 邊界掃描的概念36-37
  • 3.3 EJTAG設(shè)計原理37-46
  • 3.3.1 TAP控制器38-41
  • 3.3.2 EJTAG指令系統(tǒng)41-45
  • 3.3.3 EJTAG數(shù)據(jù)寄存器45-46
  • 3.4 本章小結(jié)46-47
  • 第四章 EJTAG調(diào)試功能的設(shè)計實現(xiàn)47-69
  • 4.1 RASP EJTAG DEBUG功能概述47
  • 4.2 RASP EJTAG DEBUG結(jié)構(gòu)框圖47-48
  • 4.3 EJTAG TAP模塊的設(shè)計48-52
  • 4.3.1 TAP接口信號48-49
  • 4.3.2 RASP EJTAG指令系統(tǒng)49-50
  • 4.3.3 EJTAG ECR寄存器描述50-52
  • 4.4 RASP主控制器內(nèi)部調(diào)試模塊的設(shè)計52-63
  • 4.4.1 EJTAG調(diào)試通道52-53
  • 4.4.2 RASP主控制器中調(diào)試相關(guān)寄存器53-61
  • 4.4.3 硬件斷點設(shè)置61-63
  • 4.5 EJTAG調(diào)試流程63-68
  • 4.5.1 TAP控制器讀寫RASP內(nèi)部寄存器的過程63-65
  • 4.5.2 RASP主控制器內(nèi)嵌調(diào)試過程65-68
  • 4.6 本章小結(jié)68-69
  • 第五章 RASP功能改進設(shè)計69-78
  • 5.1 功能需求分析69
  • 5.2 DMA取指模塊設(shè)計69-71
  • 5.2.1 模塊設(shè)計描述70
  • 5.2.2 模塊架構(gòu)圖70-71
  • 5.2.3 模塊接口信號描述71
  • 5.2.4 性能優(yōu)化71
  • 5.3 異常中斷設(shè)計71-74
  • 5.3.1 功能要點72
  • 5.3.2 具體設(shè)計描述72-73
  • 5.3.3 寄存器信號描述73-74
  • 5.4 直通模式設(shè)計74-77
  • 5.4.1 具體設(shè)計描述74-75
  • 5.4.2 DMA轉(zhuǎn)置傳輸寄存器信息75-77
  • 5.5 本章小結(jié)77-78
  • 第六章 調(diào)試及改進功能驗證78-89
  • 6.1 EJTAG調(diào)試功能驗證78-83
  • 6.1.1 EJTAG調(diào)試驗證平臺78-79
  • 6.1.2 EJTAG驗證方案及驗證流程79-81
  • 6.1.3 EJTAG調(diào)試功能仿真演示81-83
  • 6.2 RASP改進功能驗證83-88
  • 6.2.1 RASP驗證平臺83
  • 6.2.2 RASP改進功能驗證方案83-84
  • 6.2.3 RASP改進功能仿真結(jié)果84-88
  • 6.3 本章小結(jié)88-89
  • 第七章 總結(jié)與展望89-90
  • 7.1 全文總結(jié)89
  • 7.2 工作展望89-90
  • 參考文獻90-94
  • 致謝94-95

【參考文獻】

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本文編號:901624

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