本文關(guān)鍵詞：逸瓏8133的可靠性試驗(yàn)的研究

  更多相關(guān)文章： 龍芯 逸瓏8133 可靠性測試 加速試驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)計(jì)劃 失效分析

【摘要】：龍芯是中國科學(xué)院計(jì)算所自主研發(fā)的高性能通用CPU，這改寫了我國無“中國芯”的歷史。為了能使我國自主可控的芯片推向市場，在江蘇成立了江蘇中科夢蘭電子科技有限公司，它是自主信息產(chǎn)業(yè)領(lǐng)軍企業(yè)之一，是我國第一款高性能通用CPU龍芯的產(chǎn)業(yè)基地和龍頭企業(yè)，致力于用自主創(chuàng)新技術(shù)打造行業(yè)信息化整體解決方案。 對(duì)于采用第一款具有完全知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國產(chǎn)四核服務(wù)器CPU的龍芯安全筆記本逸瓏8133來說，可靠的性能、較好的質(zhì)量、低廉的成本是保證其競爭力和生命力的基礎(chǔ)。而針對(duì)龍芯電腦的特點(diǎn)，建立適合龍芯電腦的可靠性工程，設(shè)計(jì)合理及規(guī)范的可靠性測試方法，，制定合適且緊密的可靠性測試計(jì)劃，進(jìn)行嚴(yán)謹(jǐn)且細(xì)致的可靠性試驗(yàn)，是保證其性能與質(zhì)量、降低其生產(chǎn)及維護(hù)成本的重要途徑。而可靠性試驗(yàn)是可靠性工程中最基本的內(nèi)容和最重要的項(xiàng)目，是對(duì)產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證的唯一手段。 本文對(duì)逸瓏筆記本可靠性試驗(yàn)的方案進(jìn)行詳細(xì)分析，模擬各地天氣狀況、空氣濕度、運(yùn)輸條件和過程、物流運(yùn)輸、暴力卸貨等實(shí)際存在或可能存在的日常生活狀況，對(duì)逸瓏8133進(jìn)行了較為完整的可靠性試驗(yàn)，包括交變濕熱試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)、ESD試驗(yàn)等；同時(shí)，針對(duì)失效的樣品，對(duì)逸瓏8133進(jìn)行功能性驗(yàn)證，初步推斷問題產(chǎn)生原因，并使用X－Ray和Cross-section等更為專業(yè)的檢測手段，對(duì)PCB氧化分析、PCB封裝手段、回流焊工藝進(jìn)行分析、改善和驗(yàn)證工作，解決失效問題。 本文通過合理地進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，得到相關(guān)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，并依據(jù)數(shù)據(jù)進(jìn)行可靠的分析，同時(shí)反饋分析的結(jié)果，從而指導(dǎo)龍芯電腦的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的改良，以達(dá)到提高龍芯電腦質(zhì)量，降低龍芯電腦成本的目的.
【關(guān)鍵詞】：龍芯 逸瓏8133 可靠性測試 加速試驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)計(jì)劃 失效分析
【學(xué)位授予單位】：南京郵電大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2014
【分類號(hào)】：TP332
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-8
• 第一章 緒論8-12
• 1.1 逸瓏 8133 項(xiàng)目介紹8-9
• 1.2 國內(nèi)外電子計(jì)算機(jī)及可靠性技術(shù)研究現(xiàn)狀9-10
• 1.3 主要研究內(nèi)容10-11
• 1.4 論文結(jié)構(gòu)11-12
• 第二章 可靠性和可靠性試驗(yàn)概論12-17
• 2.1 可靠性的定義12-13
• 2.2 可靠性試驗(yàn)的定義13-14
• 2.3 可靠性試驗(yàn)的分類及目的14-15
• 2.4 可靠性試驗(yàn)的原理15
• 2.5 可靠性的研究意義15-16
• 2.6 本章小結(jié)16-17
• 第三章 逸瓏 8133 的可靠性試驗(yàn)計(jì)劃17-34
• 3.1 可靠性試驗(yàn)的一般要求17-19
• 3.1.1 試驗(yàn)類型的選擇的要求17
• 3.1.2 可靠性試驗(yàn)設(shè)計(jì)的要求17-18
• 3.1.3 試驗(yàn)樣品的要求18
• 3.1.4 試驗(yàn)實(shí)施的要求18
• 3.1.5 樣品的檢測要求18-19
• 3.2 可靠性試驗(yàn)的設(shè)計(jì)19-27
• 3.2.1 試驗(yàn)類型的選擇19-20
• 3.2.2 定時(shí)截尾試驗(yàn)方案的設(shè)計(jì)20-22
• 3.2.3 試驗(yàn)條件的選擇及試驗(yàn)周期的設(shè)計(jì)22-25
• 3.2.4 試驗(yàn)設(shè)備的介紹25-27
• 3.3 失效分析27-29
• 3.3.1 失效分析的目的和意義27-28
• 3.3.2 失效分析的基本內(nèi)容及要求28-29
• 3.3.3 主要失效模式及失效機(jī)理29
• 3.4 失效分析技術(shù)29-32
• 3.4.1 以失效分析為目的的電測技術(shù)30
• 3.4.2 無損失效分析技術(shù)30-31
• 3.4.3 顯微形貌像技術(shù)31
• 3.4.4 掃描電鏡分析技術(shù)31
• 3.4.5 以測量電壓效應(yīng)為基礎(chǔ)的失效分析定位技術(shù)31-32
• 3.4.6 以測量電流效應(yīng)為基礎(chǔ)的失效分析定位技術(shù)32
• 3.5 失效分析的程序32-33
• 3.6 本章小結(jié)33-34
• 第四章 逸瓏 8133 的可靠性試驗(yàn)過程34-54
• 4.1 試驗(yàn)方案34
• 4.2 試驗(yàn)項(xiàng)目34-45
• 4.2.1 開關(guān)機(jī)試驗(yàn)34-35
• 4.2.2 交變濕熱試驗(yàn)35-37
• 4.2.3 溫度沖擊試驗(yàn)37-39
• 4.2.4 機(jī)械沖擊試驗(yàn)39-40
• 4.2.5 機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)40-41
• 4.2.6 跌落試驗(yàn)41-42
• 4.2.7 靜電放電（ESD）試驗(yàn)42-45
• 4.2.8 試驗(yàn)報(bào)告要求45
• 4.3 試驗(yàn)結(jié)果與分析45-53
• 4.3.1 開關(guān)機(jī)試驗(yàn)結(jié)果與失效分析及改進(jìn)措施45-46
• 4.3.2 交變濕熱試驗(yàn)結(jié)果與失效分析及改進(jìn)措施46
• 4.3.3 溫度沖擊試驗(yàn)結(jié)果與失效分析及改進(jìn)措施46-48
• 4.3.4 機(jī)械沖擊試驗(yàn)與分析及改進(jìn)措施48-50
• 4.3.5 機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)結(jié)果與分析及改進(jìn)措施50-52
• 4.3.6 跌落試驗(yàn)結(jié)果與分析及改進(jìn)措施52-53
• 4.3.7 靜電放電試驗(yàn)結(jié)果與分析及改進(jìn)措施53
• 4.4 試驗(yàn)總結(jié)53
• 4.5 本章小結(jié)53-54
• 第五章 結(jié)論與展望54-56
• 參考文獻(xiàn)56-57
• 附錄 攻讀碩士學(xué)位期間參加的科研項(xiàng)目57-58
• 致謝58

【共引文獻(xiàn)】

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3 戴柏林;王志剛;李林;;某高速數(shù)據(jù)解調(diào)終端分系統(tǒng)的可靠性定量設(shè)計(jì)[A];中國電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)第十三屆學(xué)術(shù)年會(huì)論文選[C];2006年

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7 王華;;電子信息系統(tǒng)應(yīng)用軟件可靠性設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[A];中國電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)第十四屆學(xué)術(shù)年會(huì)論文選[C];2008年

8 來萍;李萍;張曉明;鄭廷s

本文編號(hào)：837948