本文關(guān)鍵詞：抗強光高精度紅外多點觸摸屏研究

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【摘要】：觸摸技術(shù)作為一種方便、直觀、快捷的人機交互方式,廣泛應(yīng)用在生活中的各個領(lǐng)域。隨著科技的發(fā)展,航空領(lǐng)域?qū)τ|摸產(chǎn)品有著明顯的市場需求。隨著觸摸屏的尺寸不斷增大,紅外觸摸屏在航天領(lǐng)域有著明顯優(yōu)勢。在航空領(lǐng)域使用的紅外觸摸屏不同于普通觸摸屏,主要有點。一是觸摸屏工作在太陽光照射環(huán)境中,需要解決強光干擾問題;二是因解決強光干擾問題限制了布燈布局,在此基礎(chǔ)上盡量提高觸摸屏的精度;三是在兩點觸摸模式下因邊緣斜掃描光線較疏,只采用斜掃描排除方法無法區(qū)分真實點和偽點,導(dǎo)致邊緣區(qū)域誤判率高。針對以上特殊使用情況,采取了相應(yīng)設(shè)計。利用冗余備份的兩種定位系統(tǒng)解決了紅外觸摸屏在強光下無法正常使用的問題。在一邊受到強光照射失效時,采用相對另一邊來進行工作。在單點觸摸模式下,觸摸系統(tǒng)基于多線傾斜掃描的方法,建立擴展軸坐標。利用概率統(tǒng)計思想,把所有采集數(shù)據(jù)作為樣本數(shù)據(jù)。對樣本數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計平均,求出最后觸摸坐標。此方法不僅能提高定位精度而且在個別紅外發(fā)射管失效情況下精度影響小的特點。最后在硬件內(nèi)存資源不足,計算能力有限的情況下,利用類中心算法和距離算法實現(xiàn)兩點觸摸模式下的準確計算,有效避免邊緣地區(qū)的誤判。搭建了一個適用于90×240的紅外觸摸屏,并對系統(tǒng)進行了功能測試。測試結(jié)果表明,該系統(tǒng)能夠在特殊實驗環(huán)境下正常工作,達到了預(yù)期設(shè)計目標。
【關(guān)鍵詞】：紅外觸摸 多點觸摸 高精度 抗強光
【學(xué)位授予單位】：安徽工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：TP334.3
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-9
• 第一章 緒論9-13
• 1.1 國內(nèi)外概況及現(xiàn)狀分析9-10
• 1.1.1 國外概況及現(xiàn)狀分析9-10
• 1.1.2 國內(nèi)概況及現(xiàn)狀分析10
• 1.2 觸摸屏的應(yīng)用10-11
• 1.3 課題背景與意義11
• 1.4 本論文的主要內(nèi)容11-13
• 第二章 系統(tǒng)方案設(shè)計13-18
• 2.1 電阻觸摸屏13-14
• 2.1.1 電阻觸摸屏工作原理13
• 2.1.2 電阻觸摸屏特點13-14
• 2.2 電容觸摸屏14-15
• 2.2.1 電容觸摸屏工作原理14
• 2.2.2 電容觸摸屏特點14-15
• 2.3 紅外觸摸屏15-16
• 2.3.1 紅外觸摸屏基本原理15-16
• 2.3.2 紅外觸摸屏的特點16
• 2.4 本章小結(jié)16-18
• 第三章 紅外觸摸屏嵌入式實現(xiàn)18-34
• 3.1 紅外器件選擇18-21
• 3.2 紅外發(fā)射管的驅(qū)動設(shè)計21-22
• 3.3 紅外接收管的驅(qū)動設(shè)計22-24
• 3.4 硬件電路24-33
• 3.4.1 總體設(shè)計框架24
• 3.4.2 MCU選型及模數(shù)轉(zhuǎn)換24-25
• 3.4.3 紅外發(fā)射管和接收管譯碼尋址及IO需求25-29
• 3.4.4 信號調(diào)理29-30
• 3.4.5 電源方案30-32
• 3.4.6 接口模塊32-33
• 3.5 本章小結(jié)33-34
• 第四章 抗強光紅外觸摸屏算法研究34-40
• 4.1 抗傾斜太陽光算法背景34
• 4.2 抗傾斜太陽光算法總體框架34-37
• 4.3 實驗驗證37-39
• 4.3.1 實驗原理37-38
• 4.3.2 實驗過程和實驗結(jié)論38-39
• 4.4 本章小結(jié)39-40
• 第五章 高精度紅外觸摸屏算法研究40-47
• 5.1 高精度算法提出背景40
• 5.2 擴展軸算法總體框架40-42
• 5.3 仿真實驗42-45
• 5.4 實物實驗45-46
• 5.5 本章小結(jié)46-47
• 第六章 兩點紅外觸摸屏算法研究47-56
• 6.1 兩點識別算法背景47
• 6.2 兩點識別算法總體框架47-52
• 6.3 兩點識別實驗52-54
• 6.3.1 劃線功能測試52
• 6.3.2 手勢功能測試52-54
• 6.4 測試結(jié)果54-55
• 6.5 本章小結(jié)55-56
• 第七章 試驗問題56-58
• 7.1 遇到問題及解決方法56-57
• 7.2 本章小結(jié)57-58
• 第八章 總結(jié)與展望58-60
• 8.1 總結(jié)58-59
• 8.2 展望59-60
• 參考文獻60-63
• 攻讀學(xué)位期間主要的研究成果63-64
• 附錄A 插圖清單64-66
• 附錄B 表格清單66-67
• 致謝67

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本文編號：666250