閃速存儲上的信號檢測
本文關(guān)鍵詞:閃速存儲上的信號檢測
更多相關(guān)文章: 非易失性存儲 NAND閃存 交叉編寫 動態(tài)門限 平衡編碼
【摘要】:閃速存儲器簡稱閃存,作為一種非易失性存儲設(shè)備,為近年來被廣泛應(yīng)用的一類半導體存儲器件。其中NAND閃速存儲是目前閃速存儲技術(shù)中占主導地位的一種存儲方式,隨著閃存設(shè)備存儲密度的增加和多層單元存儲方式等技術(shù)的使用,閃存設(shè)備中的各類噪聲影響也更趨嚴重,引起了存儲可靠度降低等問題。本文將對NAND閃存的信道特性進行討論,包括信息的擦寫過程和涉及到的各類噪聲。并根據(jù)這樣的信道特性,設(shè)計能夠有效消除閃存設(shè)備信息存儲過程中各類噪聲的方案。本文首先介紹了NAND閃存的結(jié)構(gòu),以及閃存單元編寫及擦除的操作機制等關(guān)鍵知識,并對設(shè)備在存儲過程中受到的各種噪聲干擾進行了介紹,隨后根據(jù)以上的基本知識給出相應(yīng)的信道模型及仿真,并介紹了一些針對閃存信道的干擾處理方法。針對單元間干擾產(chǎn)生的原因,提出了一種新的編寫方法——交叉編寫方法。該方法對閃存單元按字符線進行隔行寫入,使得分處于奇偶字符線上的閃存單元受到不同程度的干擾影響,從而可實現(xiàn)不等錯誤保護。并進一步,通過對處于奇偶字符線上的閃存單元根據(jù)所受干擾影響大小分別進行不同層數(shù)的數(shù)據(jù)寫入,提出了一種改進的交叉編寫方法。仿真結(jié)果表明提出的交叉編寫方法相比傳統(tǒng)編寫方法性能得到了較大提升。同樣針對單元間干擾的影響,受到無線通信中空間調(diào)制技術(shù)的啟發(fā),提出了兩種NAND閃存單元的空間調(diào)制編寫方法,移位編寫方法及定位編寫方法。首先將輸入數(shù)據(jù)分為位置信息及編寫信息兩部分,通過將閃存單元分成若干個小區(qū)塊,在每個小區(qū)塊內(nèi)根據(jù)位置信息來選取部分閃存單元,在這些選定的閃存單元上再根據(jù)編寫信息進行數(shù)據(jù)編寫。接收端通過對這兩部分信息的檢測來得到存儲數(shù)據(jù)。仿真結(jié)果表明當編寫密度較低時,定位編寫方法的誤碼性能相對全比特線編寫方法更優(yōu)。另外,提出了一種能夠同時處理單元間干擾、隨機電報噪聲和保持過程噪聲的信號檢測方案。在該方案中,采用動態(tài)門限和平衡編碼技術(shù)消除未知分布函數(shù)的保持過程噪聲的干擾,基于已知的隨機電報噪聲和單元間干擾的分布特性利用如后補償技術(shù)等信道處理方法來降低這部分噪聲影響。相比使用固定門限的檢測方法,該方法具有更好的誤碼性能。
【關(guān)鍵詞】:非易失性存儲 NAND閃存 交叉編寫 動態(tài)門限 平衡編碼
【學位授予單位】:西安電子科技大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:TP333
【目錄】:
- 摘要5-6
- ABSTRACT6-11
- 符號對照表11-12
- 縮略語對照表12-15
- 第一章 緒論15-19
- 1.1 非易失性存儲15-16
- 1.2 NAND閃存研究背景及進展16-18
- 1.3 論文研究內(nèi)容及安排18-19
- 第二章 NAND閃存信道模型19-31
- 2.1 NAND閃存的結(jié)構(gòu)19-21
- 2.2 NAND閃存的信道模型21-29
- 2.2.1 NAND閃存單元的編寫與擦除21-22
- 2.2.2 NAND閃存信道中的幾種主要干擾22-24
- 2.2.3 NAND閃存信道模型的建立24-29
- 2.3 本章小結(jié)29-31
- 第三章 針對C2CI的信號處理與編寫結(jié)構(gòu)設(shè)計31-51
- 3.1 針對C2CI的信號處理方法31-37
- 3.1.1 后補償方法及預失真方法31-33
- 3.1.2 高斯近似方法33-35
- 3.1.3 幾種方法的對比分析35-37
- 3.2 NAND閃存單元的交叉編寫37-44
- 3.2.1 編寫方法的研究進展37-38
- 3.2.2 交叉編寫方法38-42
- 3.2.3 改進的交叉編寫方法42-44
- 3.3 NAND閃存單元的空間調(diào)制編寫方法44-48
- 3.4 本章小結(jié)48-51
- 第四章 動態(tài)門限檢測方法51-63
- 4.1 利用平衡編碼實現(xiàn)動態(tài)門限51-56
- 4.1.1 動態(tài)門限的概念51-53
- 4.1.2 平衡編碼簡介53-55
- 4.1.3 動態(tài)門限的實現(xiàn)及仿真55-56
- 4.2 同時處理C2CI及RPN的信號檢測方案56-61
- 4.3 本章小結(jié)61-63
- 第五章 總結(jié)與展望63-65
- 參考文獻65-69
- 致謝69-71
- 作者簡介71-72
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,本文編號:583512
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