Flash存儲器并行耐久測試方法
本文關鍵詞:Flash存儲器并行耐久測試方法
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【摘要】:傳統閃存(Flash)芯片耐久測試需要對整塊芯片按扇區(qū)串行進行擦寫測試,測試時間長、效率低、成本高,不利于其批量耐久測試和產業(yè)化發(fā)展。該文基于"資源換速度"的思想提出一種高效的Flash存儲器并行耐久測試方法,通過對多片Flash芯片并行進行擦寫測試,對不同芯片擦寫不同扇區(qū)來提升其耐久測試效率,并進一步對耐久測試Flash芯片的不同扇區(qū)等效性進行分析,對等效性需要滿足的條件和要求進行探討。實驗結果表明:并行耐久測試能有效縮短測試時間,其效率提升程度與并行測試的芯片數量成正比,加速測試結果與理論曲線符合較好。
【作者單位】: 工業(yè)和信息化部電子第五研究所;
【關鍵詞】: 閃存 存儲壽命 耐久測試 扇區(qū)等效性 并行測試
【分類號】:TP333
【正文快照】: 0引言隨著移動存儲技術的快速發(fā)展和移動存儲市場的不斷擴大,Flash存儲器的市場需求快速增長[1]。由于具有低成本、高密度、掉電不丟失、便攜、可靠等優(yōu)點,其在移動產品中獲得了廣泛的應用[2-3]。隨著大規(guī)模集成電路工藝的進步,Flash存儲器的質量可靠性成為影響其大量應用的關
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,本文編號:524235
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