本文關(guān)鍵詞：基于UVM的CPU卡芯片驗(yàn)證平臺(tái)，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：介紹了一種基于UVM(Universal Verification Methodology)驗(yàn)證方法學(xué)的驗(yàn)證平臺(tái).該驗(yàn)證平臺(tái)是針對(duì)基于自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)產(chǎn)MCU C0的CPU卡芯片的功能驗(yàn)證需求所搭建的.該驗(yàn)證平臺(tái)采用面向?qū)ο蟮膶哟位慕７椒?完成了符合ISO14443協(xié)議的驗(yàn)證事務(wù),通用功能驗(yàn)證組件以及設(shè)計(jì)參考模型的建模;能實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)計(jì)中信號(hào)的變化,能實(shí)現(xiàn)在驗(yàn)證過(guò)程中驗(yàn)證結(jié)果的自動(dòng)對(duì)比,能根據(jù)覆蓋率調(diào)整驗(yàn)證的進(jìn)程.驗(yàn)證結(jié)果表明,該驗(yàn)證平臺(tái)具有復(fù)用性,提升了芯片驗(yàn)證的效率和可靠性.
【作者單位】： 南通大學(xué)江蘇省專用集成電路設(shè)計(jì)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】： UVM驗(yàn)證方法學(xué) CPU卡芯片 System verilog 功能驗(yàn)證
【基金】：江蘇省物聯(lián)網(wǎng)和新一代信息技術(shù)研發(fā)及產(chǎn)業(yè)化項(xiàng)目(su2013-137) 江蘇省高校自然科學(xué)研究重大項(xiàng)目(13kj510005) 南通大學(xué)研究生科技計(jì)劃項(xiàng)目(yk1402)
【分類號(hào)】：TP332
【正文快照】： 1引言隨著大規(guī)模集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展,數(shù)字集成電路的規(guī)模不斷增大,功能不斷增強(qiáng),這給驗(yàn)證完備性帶來(lái)了更大的挑戰(zhàn).同時(shí)隨著市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的日益激烈,芯片從研發(fā)到上市的周期不斷縮短,這對(duì)于驗(yàn)證的效率又提出了更高的要求[1-2].驗(yàn)證技術(shù)一直在發(fā)展,從早前的e語(yǔ)言、verilog語(yǔ)言到

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本文編號(hào)：476778