1Mb MRAM架構(gòu)和關(guān)鍵電路的研究
發(fā)布時間:2023-11-04 14:57
存儲器是電路中必不可少的一部分。近幾年來,傳統(tǒng)CMOS電路中存儲器已經(jīng)遇到了物理極限;趬嚎卮鸥飨虍愋源磐ǖ澜Y(jié)(VCMA-MTJ)的磁阻存儲器(MRAM)與傳統(tǒng)的存儲器相比具有更小的面積,更快的速度和更低的功耗,是一種可以替代現(xiàn)有傳統(tǒng)存儲器的有前景的新型存儲器。作為一種新型的器件,必須有適合的外圍電路進(jìn)行配合才能夠進(jìn)行正常的讀寫操作。本文的工作主要著重于VCMA-MTJ磁阻存儲器的架構(gòu)和外圍電路的研究。首先,本文比較了現(xiàn)有的幾種新型存儲器和磁阻存儲器的特性,闡述了磁阻存儲器的優(yōu)缺點(diǎn)。介紹了本文采用的VCMA--MTJ存儲器件的工作原理,并基于VCMA-MTJ的物理特性設(shè)計三端存儲單元,在該存儲單元的基礎(chǔ)上建立1Mb容量的整體電路。介紹了外圍電路中各個輸入輸出端口的功能,簡單分析了基本的讀寫時序。其次,本文設(shè)計并優(yōu)化了電路的讀寫電路。針對VCMA-MTJ的存儲特性,設(shè)計了帶有預(yù)讀取的寫入過程,用來降低數(shù)據(jù)的誤寫入。使用邏輯努力對地址譯碼電路進(jìn)行優(yōu)化,即增大了電路的驅(qū)動能力,又提高了電路的驅(qū)動能力。在讀過程中,設(shè)計了外部編程控制的位線復(fù)位電路,用來降低誤寫入并提高電路讀出時的工作頻率。同...
【文章頁數(shù)】:90 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
ABSTRACT
符號對照表
縮略語對照表
第一章 緒論
1.1 課題背景及意義
1.2 新型存儲器的發(fā)展現(xiàn)狀
1.3 國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀
1.4 本文的內(nèi)容和結(jié)構(gòu)
第二章 磁存儲器中的存儲單元和存儲器架構(gòu)
2.1 自旋電子器件
2.2 壓控磁各項(xiàng)異性磁通道結(jié)存儲器件
2.3 VCMA-MTJ存儲單元
2.4 IMb存儲電路的基本架構(gòu)
2.4.1 1Mb電路的端口和架構(gòu)
2.4.2 64Kb電路的架構(gòu)和基本時序
2.5 本章小結(jié)
第三章 MRAM的讀寫電路
3.1 寫入過程及寫入電路的設(shè)計
3.1.1 帶有預(yù)讀取過程的寫入過程
3.1.2 帶有預(yù)讀取過程的寫入過程
3.1.3 寫入過程的仿真
3.2 地址選擇輸入的邏輯努力
3.2.1 邏輯努力
3.2.2 譯碼電路的優(yōu)化
3.3 可編程的位線復(fù)位技術(shù)
3.4 本章小結(jié)
第四章 靈敏放大器的優(yōu)化
4.1 傳統(tǒng)的靈敏放大器
4.1.1 電流鏡靈敏放大器
4.1.2 交叉耦合型靈敏放大器
4.2 鎖存型靈敏放大器
4.3 雙尾靈敏放大器
4.3.0 傳統(tǒng)雙尾靈敏放大器
4.3.1 改進(jìn)的雙尾靈敏放大器
4.3.2 雙尾靈敏放大器進(jìn)行仿真
4.4 本章小結(jié)
第五章 應(yīng)用于測試的冗余結(jié)構(gòu)
5.1 寫入脈沖寬度的控制
5.1.1 通過外加電壓的大小控制脈沖寬度
5.1.2 通過外部編程的方式來調(diào)控脈沖寬度
5.2 不同輸入輸出端口對電路性能的影響
5.2.2 寫入時不同線路輸入的實(shí)現(xiàn)
5.2.3 讀出時不同線路輸出的實(shí)現(xiàn)
5.3 本章小結(jié)
第六章 仿真
6.1 外部信號說明
6.2 電路整體仿真
6.3 電路工作頻率分析
6.4 本章小結(jié)
第七章 總結(jié)與展望
7.1 全文總結(jié)
7.2 展望
參考文獻(xiàn)
致謝
作考簡介
本文編號:3860526
【文章頁數(shù)】:90 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
ABSTRACT
符號對照表
縮略語對照表
第一章 緒論
1.1 課題背景及意義
1.2 新型存儲器的發(fā)展現(xiàn)狀
1.3 國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀
1.4 本文的內(nèi)容和結(jié)構(gòu)
第二章 磁存儲器中的存儲單元和存儲器架構(gòu)
2.1 自旋電子器件
2.2 壓控磁各項(xiàng)異性磁通道結(jié)存儲器件
2.3 VCMA-MTJ存儲單元
2.4 IMb存儲電路的基本架構(gòu)
2.4.1 1Mb電路的端口和架構(gòu)
2.4.2 64Kb電路的架構(gòu)和基本時序
2.5 本章小結(jié)
第三章 MRAM的讀寫電路
3.1 寫入過程及寫入電路的設(shè)計
3.1.1 帶有預(yù)讀取過程的寫入過程
3.1.2 帶有預(yù)讀取過程的寫入過程
3.1.3 寫入過程的仿真
3.2 地址選擇輸入的邏輯努力
3.2.1 邏輯努力
3.2.2 譯碼電路的優(yōu)化
3.3 可編程的位線復(fù)位技術(shù)
3.4 本章小結(jié)
第四章 靈敏放大器的優(yōu)化
4.1 傳統(tǒng)的靈敏放大器
4.1.1 電流鏡靈敏放大器
4.1.2 交叉耦合型靈敏放大器
4.2 鎖存型靈敏放大器
4.3 雙尾靈敏放大器
4.3.0 傳統(tǒng)雙尾靈敏放大器
4.3.1 改進(jìn)的雙尾靈敏放大器
4.3.2 雙尾靈敏放大器進(jìn)行仿真
4.4 本章小結(jié)
第五章 應(yīng)用于測試的冗余結(jié)構(gòu)
5.1 寫入脈沖寬度的控制
5.1.1 通過外加電壓的大小控制脈沖寬度
5.1.2 通過外部編程的方式來調(diào)控脈沖寬度
5.2 不同輸入輸出端口對電路性能的影響
5.2.2 寫入時不同線路輸入的實(shí)現(xiàn)
5.2.3 讀出時不同線路輸出的實(shí)現(xiàn)
5.3 本章小結(jié)
第六章 仿真
6.1 外部信號說明
6.2 電路整體仿真
6.3 電路工作頻率分析
6.4 本章小結(jié)
第七章 總結(jié)與展望
7.1 全文總結(jié)
7.2 展望
參考文獻(xiàn)
致謝
作考簡介
本文編號:3860526
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