發(fā)布時(shí)間：2023-05-27 19:10

　　為了實(shí)現(xiàn)對(duì)基本放大電路的特性測(cè)量,設(shè)計(jì)了一種簡(jiǎn)易電路特性測(cè)試儀。該裝置以STM32單片機(jī)為核心,通過(guò)控制FPGA和DA模塊產(chǎn)生頻率可控的正弦波,利用有效值檢波模塊檢測(cè)放大電路輸入輸出電壓,最后利用單片機(jī)計(jì)算相關(guān)參數(shù),從而獲得電路的輸入電阻、輸出電阻、幅頻特性曲線、輸出直流分量等信息。該檢測(cè)儀還可以判斷電路出現(xiàn)的故障并給出故障原因,對(duì)初學(xué)者深入理解基本放大電路的結(jié)構(gòu)和特性參數(shù)測(cè)量方法具有重要的指導(dǎo)意義。

【文章頁(yè)數(shù)】：5 頁(yè)

【文章目錄】：
0 引 言
1 電路特性測(cè)量方法
    1.1 輸入電阻的測(cè)量方法
    1.2 輸出電阻的測(cè)量方法
    1.3 電路增益測(cè)量及幅頻特性測(cè)量方法
    1.4 電路直流偏置測(cè)量方法
2 電路特性測(cè)試儀整體方案設(shè)計(jì)
    2.1 硬件系統(tǒng)
        1)掃頻信號(hào)源模塊
        2)計(jì)算與顯示模塊
        3)輸入端輸出端信號(hào)幅值直流變換模塊
    2.2 軟件系統(tǒng)
3 測(cè)試結(jié)果及分析
    3.1 電路特性測(cè)量
    3.2 電路故障特性測(cè)量
4 結(jié) 論



本文編號(hào)：3824101