靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器（SRAM）電路的失效是極小概率事件,并且不同電路條件下的失效區(qū)域邊界可能相距很遠(yuǎn)。因此,為了更高效地獲得更精準(zhǔn)的SRAM成品率預(yù)測結(jié)果,提出一種基于正交匹配追蹤（OMP）算法的SRAM性能分組建模方法,并應(yīng)用于典型SRAM電路成品率的預(yù)測。此方法主要根據(jù)不同SRAM電路條件下失效區(qū)域邊界距離的差異將仿真數(shù)據(jù)劃分為多組,之后利用OMP算法對不同組的數(shù)據(jù)分別建立多項(xiàng)式模型,該模型可用于對SRAM電路的成品率進(jìn)行快速分析預(yù)測。與標(biāo)準(zhǔn)蒙特卡洛統(tǒng)計(jì)算法及基于OMP的單一建模方法相比,基于OMP的分組建模方法不僅可以縮短建模時(shí)間,提高建模準(zhǔn)確度,還能夠獲得更加精確的SRAM成品率預(yù)測結(jié)果。 

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【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號：3728935