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五氧化二鉭異質(zhì)結(jié)的電阻開(kāi)關(guān)特性研究

發(fā)布時(shí)間:2017-05-16 06:09

  本文關(guān)鍵詞:五氧化二鉭異質(zhì)結(jié)的電阻開(kāi)關(guān)特性研究,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。


【摘要】:伴隨著科技的騰飛,人們對(duì)存儲(chǔ)器性能的需求標(biāo)準(zhǔn)也越來(lái)越高,比如,高密度、高速度、非揮發(fā)性、低功耗等等。閃存占據(jù)了非易失存儲(chǔ)器的主要市場(chǎng),但是,閃存存在著速度慢的缺點(diǎn),并且隨著器件尺度的減小,其氧化層厚度也將減小,會(huì)引起散熱差、漏電等問(wèn)題,因此,其發(fā)展前景并不樂(lè)觀。目前,人們?cè)谘芯康姆且资滦碗S機(jī)存儲(chǔ)器兼有速度快和非易失的特點(diǎn),主要包括磁存儲(chǔ)器(MRAM)、鐵電存儲(chǔ)器(FRAM)、電阻存儲(chǔ)器(ReRAM)、相變存儲(chǔ)器(PRAM)等。ReRAM為最新發(fā)展的存儲(chǔ)器,但是它具備速度快、低功耗、低成本、制作簡(jiǎn)單、與傳統(tǒng)CMOS工藝能夠很好的兼容的優(yōu)勢(shì),因此ReRAM有很大的潛力成為下一代新型存儲(chǔ)器。在1962年,科學(xué)家T. W. Hickmott通過(guò)研究Al/Al2O3/Au、Zr/ZrO2/Au等這種金屬-介質(zhì)層-金屬的三明治結(jié)構(gòu)的I-V特性曲線,首次開(kāi)展了對(duì)阻變現(xiàn)象的研究。近幾年,ReRAM逐漸成為存儲(chǔ)器研究的焦點(diǎn)。 Ta205有杰出的化學(xué)性質(zhì)和物理性質(zhì),Ta205越來(lái)越吸引人們注意,并在多個(gè)領(lǐng)域得到應(yīng)用。例如,Ta205是一種具有高折射率的鍍膜材料,其折射率為2.1。由于Ta205和Si之間具有高質(zhì)量的界面和小的漏電流,通常在高品質(zhì)的電容器中用作絕緣層。在電阻開(kāi)關(guān)特性的研究領(lǐng)域中,由于Ta2O5穩(wěn)定的電阻開(kāi)關(guān)特性,是被應(yīng)用研究的最多的材料之一。 在本論文中,我們使用濺射儀制備了Ag/Co/Ta2O5/Ag結(jié)構(gòu)的異質(zhì)結(jié),并在其中發(fā)現(xiàn)了重復(fù)性良好的雙極阻變,高低阻態(tài)之比高達(dá)104,其優(yōu)良的性質(zhì)將使其在阻變存儲(chǔ)器中有良好的應(yīng)用。通過(guò)改變異質(zhì)結(jié)中Ta205的厚度和結(jié)面積的大小,我們發(fā)現(xiàn),異質(zhì)結(jié)的低阻態(tài)電阻并不隨著Ta205的厚度和結(jié)面積的改變而有明顯的變化,并由此得出該異質(zhì)結(jié)的導(dǎo)電類型屬于塊體主導(dǎo)型。在進(jìn)一步的實(shí)驗(yàn)中,我們使用金電極替代銀電極,制備了Au/Co/Ta2O5/Au結(jié)構(gòu)的異質(zhì)結(jié),在其中也發(fā)現(xiàn)了同樣類型的雙極阻變。因此排除了低阻態(tài)時(shí)銀電極形成銀燈絲的可能,推測(cè)阻變是由Ta205中氧離子遷移引起的。我們還制備了Ag/Ta2O5/Ag器件,并測(cè)量了其阻變性質(zhì),呈現(xiàn)出不穩(wěn)定的補(bǔ)償阻變,并且我們的樣品不需要電成型過(guò)程,對(duì)于多層膜磁性測(cè)量證明CoO的生成。綜合上述現(xiàn)象我們認(rèn)為Co層的 加入會(huì)打破器件的平衡結(jié)構(gòu),Co很活潑,會(huì)在生長(zhǎng)Ta205的時(shí)候自然氧化形成一層CoO,這樣就在Ta2O5中會(huì)形成一個(gè)氧空位的空間梯度分布,代替了其他文獻(xiàn)報(bào)道中的電成型過(guò)程。阻變的過(guò)程大致如下:當(dāng)加正向電壓時(shí),氧空位會(huì)向負(fù)極方向聚集,從而使負(fù)極附近的導(dǎo)電性增強(qiáng),加在負(fù)極附近的電場(chǎng)減小,此處我們稱之為虛擬陰極,隨著加電壓的時(shí)間增長(zhǎng),虛擬陰極會(huì)逐漸往陽(yáng)極移動(dòng),最終和陽(yáng)極金屬電極接觸,從而使之由高阻態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榈妥钁B(tài),反之加負(fù)電壓會(huì)使得氧空位反向移動(dòng)從而導(dǎo)致氧空位通道斷裂,使之由低阻態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)楦咦钁B(tài)?傊,我們的工作成功實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的雙極阻變,得出阻變現(xiàn)象的機(jī)理是氧離子遷移導(dǎo)致的導(dǎo)電通道以及Co層加入的意義。
【關(guān)鍵詞】:異質(zhì)結(jié) 電阻開(kāi)關(guān)特性 五氧化二鉭 磁控濺射
【學(xué)位授予單位】:山東大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2014
【分類號(hào)】:TP333
【目錄】:
  • 摘要8-10
  • ABSTRACT10-12
  • 第一章 緒論12-28
  • 第一節(jié) Ta_2O_5的性質(zhì)及其研究進(jìn)展12
  • 第二節(jié) 異質(zhì)結(jié)12-15
  • 1.2.1 異質(zhì)結(jié)的性質(zhì)12-14
  • 1.2.2 異質(zhì)結(jié)的研究進(jìn)展及其應(yīng)用14-15
  • 第三節(jié) 新型非易失存儲(chǔ)器的介紹15-18
  • 1.3.1 電阻式存儲(chǔ)器(ReRAM,Resistance RAM)15-16
  • 1.3.2 鐵電存儲(chǔ)器(FeRAM,Ferroelectric RAM)16
  • 1.3.3 磁存儲(chǔ)器(Magnetic RAM,MRAM)16-17
  • 1.3.4 相變存儲(chǔ)器(Phase Change RAM,PCRAM)17-18
  • 第四節(jié) 電阻式存儲(chǔ)器的研究及其進(jìn)展18-26
  • 1.4.1 電阻開(kāi)關(guān)效應(yīng)的分類18-19
  • 1.4.2 電阻式存儲(chǔ)器的材料19-21
  • 1.4.3 電阻開(kāi)關(guān)效應(yīng)的機(jī)制21-26
  • 第五節(jié) 本課題的研究動(dòng)機(jī)和內(nèi)容26-28
  • 第二章 樣品的制備與表征28-44
  • 第一節(jié) 濺射鍍膜28-38
  • 2.1.1 濺射鍍膜的特點(diǎn)28-29
  • 2.1.2 濺射的基本原理29-36
  • 2.1.3 實(shí)驗(yàn)用磁控共濺濺射設(shè)備36-38
  • 第二節(jié) 超導(dǎo)量子干涉儀(SQUID)38-42
  • 第三節(jié) 交變梯度磁強(qiáng)計(jì)(AGM)42-44
  • 第三章 Ag/Co/Ta_2O_5/Ag異質(zhì)結(jié)的電阻開(kāi)關(guān)特性的研究44-58
  • 第一節(jié) 引言44
  • 第二節(jié) 樣品制備工藝的介紹44-47
  • 3.2.1 襯底的處理44-45
  • 3.2.2 Ag/Co/Ta_2O_5/Ag異質(zhì)結(jié)的制備45-47
  • 第三節(jié) 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及討論47-58
  • 3.3.1 Ag/Co/Ta_2O_5/Ag異質(zhì)結(jié)的性質(zhì)介紹47-51
  • 3.3.2 Ag/Co/Ta_2O_5(6nm)/Ag電阻開(kāi)關(guān)特性機(jī)理的探究51-58
  • 第四章 Ag/Ta_2O_5/Ag異質(zhì)結(jié)的電阻開(kāi)關(guān)特性的研究58-60
  • 第五章 總結(jié)與展望60-62
  • 致謝62-63
  • 參加的學(xué)術(shù)會(huì)議63-64
  • 參考文獻(xiàn)64-69
  • 學(xué)位論文評(píng)閱及答辯情況表69

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