電子計算機中電子產品的可靠性研究
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【摘要】:電子產品的可靠性是影響其產品質量的關鍵因素之一,而且隨著控制系統(tǒng)大型化,涉及眾多電子元件,其單個元件的故障會影響整個系統(tǒng)的正常工作。因此近年來對元件可靠性能的重視程度越來越高,需要在預定的環(huán)境和滿足可靠性指標的條件下,對電子產品可靠性進行測試,世界各發(fā)達國家已把可靠性技術和全面質量管理緊密地集合起來,以提高產品的可靠性水平。本文依據國家相關標準和參考業(yè)內有關流程,對使用龍芯CPU的電子計算機電子產品開展可靠性試驗研究,即進行了可靠性試驗,能夠對開關機、交變濕熱、溫度沖擊、機械沖擊、機械振動等性能指標進行全面測試。通過制定合理的可靠性試驗計劃和嚴謹的試驗步驟,進而結合各項試驗的結果,通過失效分析找出失效機理,發(fā)現(xiàn)設計的缺陷或生產制造的漏洞與不足,同時,針對失效的樣品,對A電子產品進行功能性驗證,初步推斷問題產生原因,并使用X-Ray和Cross-section等更為專業(yè)的檢測手段,對PCB氧化分析、PCB封裝手段、回流焊工藝進行分析、改善和驗證工作,解決失效問題。最后將反饋分析的結果于設計和制造,以指導該電子產品的設計優(yōu)化和生產制造的改良,以達到提高該電子產品性能和品質,降低產品成本的目的。
【關鍵詞】:電子產品 可靠性 試驗
【學位授予單位】:華東理工大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2016
【分類號】:TP302.7
【目錄】:
- 摘要5-6
- Abstract6-9
- 第1章 緒論9-13
- 1.1 研究背景9-10
- 1.2 電子產品可靠性試驗研究現(xiàn)狀10-12
- 1.3 本文章節(jié)內容安排12-13
- 第2章 電子產品可靠性試驗概述13-17
- 2.1 可靠性的研究模型13-14
- 2.2 可靠性試驗的定義14
- 2.3 可靠性試驗的分類及目的14-16
- 2.4 步進應力加速壽命的試驗16
- 2.5 本章小結16-17
- 第3章 A電子產品的可靠性試驗方案與失效分析17-30
- 3.1 可靠性試驗的一般要求17-18
- 3.1.1 試驗類型的選擇的要求17
- 3.1.2 可靠性試驗設計的要求17
- 3.1.3 試驗樣品的要求17-18
- 3.1.4 試驗實施的要求18
- 3.1.5 樣品的檢測要求18
- 3.2 A電子產品可靠性試驗的設計18-24
- 3.2.1 試驗類型的選擇18-19
- 3.2.2 定時截尾試驗方案的設計19-21
- 3.2.3 試驗條件的選擇及試驗周期的設計21-24
- 3.3 失效分析24-27
- 3.3.1 失效分析的目的和意義25
- 3.3.2 失效分析的基本內容及要求25-26
- 3.3.3 主要失效模式及失效機理26-27
- 3.4 A電子產品失效分析技術27-29
- 3.4.1 以失效分析為目的的電測技術27
- 3.4.2 無損失效分析技術27-28
- 3.4.3 顯微形貌像技術28
- 3.4.4 掃描電鏡分析技術28
- 3.4.5 以測量電壓效應為基礎的失效分析定位技術28
- 3.4.6 以測量電流效應為基礎的失效分析定位技術28-29
- 3.5 A電子產品失效分析的程序29
- 3.6 本章小結29-30
- 第4章 A電子產品的可靠性試驗過程30-45
- 4.1 試驗方案30
- 4.2 試驗項目30-39
- 4.3 試驗結果與分析39-43
- 4.3.1 開關機試驗結果與失效分析及改進措施39
- 4.3.2 交變濕熱試驗結果與失效分析及改進措施39
- 4.3.3 溫度沖擊試驗結果與失效分析及改進措施39-40
- 4.3.4 機械沖擊試驗與分析及改進措施40-41
- 4.3.5 機械振動試驗結果與分析及改進措施41-42
- 4.3.6 跌落試驗結果與分析及改進措施42-43
- 4.3.7 靜電放電試驗結果與分析及改進措施43
- 4.4 試驗總結43-45
- 第5章 結論與展望45-47
- 參考文獻47-51
- 致謝51
【參考文獻】
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本文編號:362946
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