本課題是為了對(duì)某遙測(cè)系統(tǒng)的數(shù)字量變換器的研制和生產(chǎn)提供一種可靠、高效、便攜的專用測(cè)試設(shè)備。隨著嵌入式技術(shù)的快速發(fā)展,本文將控制計(jì)算機(jī)功能和FPGA邏輯控制整合到單塊電路板上,實(shí)現(xiàn)原有數(shù)字量變換器測(cè)試臺(tái)的所有功能,使其可靠性提高,體積縮小,功耗降低。本文從以下幾個(gè)方面進(jìn)行了研究:首先,傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備的基礎(chǔ)上,對(duì)其控制計(jì)算機(jī)部分進(jìn)行改進(jìn),采用ARM微處理器替換控制計(jì)算機(jī),對(duì)測(cè)試臺(tái)的硬件、功耗等方面進(jìn)行改進(jìn)升級(jí)。經(jīng)過分析任務(wù)給出的技術(shù)指標(biāo),提出了嵌入式測(cè)試臺(tái)的設(shè)計(jì)方案:系統(tǒng)以ARM微處理器和FPGA為主要控制部分,ARM微處理器實(shí)現(xiàn)原有計(jì)算機(jī)的所有功能,FPGA實(shí)現(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)的所有邏輯控制和接口時(shí)序。其次,介紹嵌入式測(cè)試臺(tái)的各個(gè)通信接口硬件電路,并在FPGA中實(shí)現(xiàn)PCM解數(shù),異步串行數(shù)據(jù)的發(fā)送和接收,數(shù)據(jù)的編幀。接下來介紹ARM微處理器的USB、TF卡、LCD等外圍接口電路,微處理器與FPGA之間的通信接口選擇和通信實(shí)現(xiàn)方法;最后,介紹嵌入式測(cè)試臺(tái)的操作系統(tǒng)選取、操作系統(tǒng)移植和部分驅(qū)動(dòng)的編寫。升級(jí)后的嵌入式測(cè)試臺(tái)主要完成了以下功能:模擬產(chǎn)生位控、計(jì)算機(jī)字、高精度等控制指令;發(fā)送并接收數(shù)據(jù),對(duì)發(fā)送... 

【文章來源】：中北大學(xué)山西省

【文章頁數(shù)】：80 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

嵌入式變換器測(cè)試臺(tái)總體框架

中北大學(xué)學(xué)位論文展。在強(qiáng)大的市場(chǎng)需求下，眾多廠家紛紛家研制的數(shù)字量測(cè)試臺(tái)越來越趨向于微代表性的幾款數(shù)字量測(cè)試設(shè)備。發(fā)公司[4]推出的VTB7000 VXI總線通用測(cè)一種通用性強(qiáng)、被測(cè)設(shè)備覆蓋面廣、可擴(kuò)電子設(shè)備研制、維護(hù)使用和工廠生產(chǎn)的方目前武器裝備的電子設(shè)備自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)采取高度標(biāo)準(zhǔn)化、通用化、系列化、組合用于空軍、海軍、二炮、航空、航天、船設(shè)備的測(cè)試與控制。該產(chǎn)品可滿足用戶對(duì)

中北大學(xué)學(xué)位論文周期，大大降低開發(fā)成本。對(duì)不同被測(cè)對(duì)象的測(cè)試過程中，能夠產(chǎn)品化，使開發(fā)效率越來越高。公司推出的ET8800 便攜測(cè)試儀[3]如圖輕，性能可靠，是理想的可隨身攜帶的能夠測(cè)試各類靜態(tài)、動(dòng)態(tài)信號(hào)，具有多勵(lì)信號(hào)。該測(cè)試儀，已被廣泛應(yīng)用到

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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