發(fā)布時間：2021-08-06 12:04

　　鍵盤的壽命測試是一個重復(fù)性、機(jī)械性的工作,每個被檢測的按鍵次數(shù)都在百萬次以上,由人工測試幾乎是不可能的,且人工測試一致性差,誤差大,然而,鍵盤的性能和使用壽命是一項必須測試的指標(biāo),按鍵測試系統(tǒng)就能很好地解決這個問題。在分析和比較國內(nèi)外按鍵測試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,結(jié)合具體的工程應(yīng)用背景,分析按鍵測試系統(tǒng)的功能和性能需求,本課題采用嵌入μC/OS_Ⅱ操作系統(tǒng)的ARM7數(shù)據(jù)采集卡和基于LabVIEW開發(fā)的測控軟件組成一個完整的按鍵測控系統(tǒng)。下位機(jī)系統(tǒng)采用Philips公司的ARM7芯片LPC2131為主控制器,運(yùn)用模糊PID算法對伺服電機(jī)進(jìn)行準(zhǔn)確控制,選用具有24位分辨率的AD轉(zhuǎn)換芯片ADS1255來實現(xiàn)力量信號的高精度轉(zhuǎn)換,主控芯片的I/O口進(jìn)行高速掃描計數(shù)位移脈沖信號,同時各接口通過光耦與外部隔離,增加系統(tǒng)的抗干擾能力。用圖形化編程工具LabVIEW實現(xiàn)上位機(jī)軟件的開發(fā),通過RS232串口通信,可實現(xiàn)復(fù)雜的數(shù)據(jù)采集與處理分析功能,實現(xiàn)當(dāng)前值的顯示、測試曲線的顯示、數(shù)據(jù)保存、報表生成與打印等功能。論文敘述了系統(tǒng)的硬件設(shè)計、軟件開發(fā)及控制方法的研究,并對軟、硬件抗干擾問題作了研... 

【文章來源】：東華大學(xué)上海市 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：83 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第1章 緒論
    1.1 前言
    1.2 國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀
    1.3 嵌入式操作系統(tǒng)現(xiàn)狀
    1.4 課題的研究意義
    1.5 本文研究內(nèi)容和主要工作
第2章 按鍵測試系統(tǒng)的整體方案設(shè)計
    2.1 按鍵測試儀的工作原理及性能參數(shù)
        2.1.1 按鍵測試儀的工作原理
        2.1.2 系統(tǒng)需測試的按鍵性能參數(shù)
    2.2 按鍵測試系統(tǒng)設(shè)計方案
        2.2.1 系統(tǒng)規(guī)格及主要技術(shù)指標(biāo)
        2.2.2 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)圖
        2.2.3 系統(tǒng)組成單元具體方案設(shè)計
    2.3 本章小結(jié)
第3章 按鍵測試系統(tǒng)硬件電路的設(shè)計
    3.1 系統(tǒng)硬件電路設(shè)計的要求
    3.2 硬件電路的選型論證與設(shè)計
        3.2.1 主控制器硬件平臺結(jié)構(gòu)圖
        3.2.2 JTAG調(diào)試接口
        3.2.3 復(fù)位及掉電保護(hù)電路的設(shè)計
        3.2.4 串行通信接口
        3.2.5 電源電路的設(shè)計
        3.2.6 力量信號采集電路
        3.2.7 位移信號采集電路
        3.2.8 伺服電機(jī)控制電路
    3.3 硬件抗干擾性及可靠性研究
        3.3.1 電磁干擾的形成因素
        3.3.2 干擾的來源
        3.3.3 干擾的耦合途徑
        3.3.4 硬件上擬采取的抗干擾措施
    3.4 本章小結(jié)
第4章 按鍵測試系統(tǒng)軟件設(shè)計
    4.1 編程語言的選擇及論證
    4.2 μC/OS-II介紹
    4.3 μC/OS-II在LPC2131上的移植
        4.3.1 移植的可行性分析
        4.3.2 編寫OS_CPU.H
        4.3.3 編寫OS_CPU_C.C文件
        4.3.4 編寫OS_CPU_A.ASM
    4.4 串口驅(qū)動
        4.4.1 串口驅(qū)動簡介
        4.4.2 API函數(shù)集
    4.5 本章小結(jié)
第5章 按鍵測試系統(tǒng)控制策略研究
    5.1 PID控制器簡述
    5.2 模糊控制器綜述
    5.3 按鍵測試系統(tǒng)的模糊PID控制器設(shè)計
        5.3.1. 模糊PID控制器的結(jié)構(gòu)
        5.3.2. 模糊控制規(guī)則的確定
    5.4 本章小結(jié)
第6章 基于LabVIEW的上位機(jī)軟件設(shè)計
    6.1 開發(fā)環(huán)境LabVIEW簡介
    6.2 軟件總體框架
    6.3 軟件各部分功能詳解
    6.4 基于LabVIEW的上位機(jī)軟件設(shè)計
        6.4.1 通信方式
        6.4.2 校驗方式
        6.4.3 軟件設(shè)計
    6.5 軟件的抗干擾分析
    6.6 本章小結(jié)
第7章 總結(jié)與展望
    7.1 論文工作總結(jié)
    7.2 課題延續(xù)
參考文獻(xiàn)
攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表學(xué)術(shù)論文
致謝


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]單片機(jī)產(chǎn)品的電磁兼容性問題的研究[J]. 楊麗君.  遼寧科技學(xué)院學(xué)報. 2005(03)
[2]單片機(jī)系統(tǒng)的電磁兼容性設(shè)計[J]. 陳巨龍.  船電技術(shù). 2005(03)
[3]PWM技術(shù)實現(xiàn)方法綜述[J]. 李旭,謝運(yùn)祥.  電源技術(shù)應(yīng)用. 2005(02)
[4]單片機(jī)系統(tǒng)的電磁兼容問題[J]. 孟慶建,張恭孝.  自動化儀表. 2004(04)
[5]單片機(jī)控制系統(tǒng)的可靠性及電磁兼容性[J]. 孫殿紅,碩力更.  安全與電磁兼容. 1999(02)
[6]電網(wǎng)干擾和監(jiān)測[J]. 徐家政.  電子測量技術(shù). 1992(04)

碩士論文
[1]基于ARM的萬能材料試驗機(jī)測控系統(tǒng)的研究[D]. 項雷軍.浙江工業(yè)大學(xué) 2005



本文編號：3325743