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智能故障診斷理論在32位ARM系統中的研究與應用

發(fā)布時間:2021-07-27 22:35
  隨著各種ARM系列32位微處理和微控制芯片的廣泛應用,數字單片機系統功能越來越強,集成度越來越高。為滿足這些數字系統的故障檢測需求,出現了許多智能故障檢測和診斷的方法,然而在將這些方法應用到實際的故障診斷系統中后,遇到了一些難題,其中如何區(qū)分并解決多線橋接故障中征兆混淆問題和地址總線故障診斷一直是智能故障診斷系統設計的難題。為解決這一難題,本文深入研究目前國內外最新取得的一些理論成果,如故障檢測和緊湊性定理、故障診斷完備性定理和抗誤判定理,通過這些研究為本文的撰寫提供了堅實的理論依據。 本文作者對一類的測試優(yōu)化算法:NAAC算法(No Aliasing and Anti-Confounding Algorithm:無誤判抗混淆算法)進行深入研究,為彌補其不能很好解決橋接故障的征兆混淆的不足,對NAAC算法進行改進,提出一種自適應二次測試算法。并將其應用于實際的ARM智能故障診斷系統中。采用自適應NAAC算法生成的測試矩陣能夠確保無征兆誤判,同時還能將大的測試矩陣壓縮成小規(guī)模的測試矩陣。在其生成的測試矩陣中各PTV互不相同,但都具有相同的權值,而權值可以由故障診斷系統的設計者予以指... 

【文章來源】:四川大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數】:112 頁

【學位級別】:碩士

【文章目錄】:
摘要
Abstract
目錄
1 綜述
    1.1 引言
    1.2 故障診斷技術發(fā)展及技術概述
        1.2.1 基于狀態(tài)估計的方法
        1.2.2 基于參數估計的方法
        1.2.3 基于專家系統的故障診斷方法
        1.2.4 基于模式識別的故障診斷方法
        1.2.5 基于模糊數學的故障診斷方法
        1.2.6 基于人工神經網絡的故障診斷方法
        1.2.7 基于邊界掃描測試的BIT故障診斷方法
    1.3 國內外研究現狀及發(fā)展趨勢
    1.4 本系統設計任務及意義
    1.5 本設計所做的工作以及創(chuàng)新之處
2 智能故障診斷系統的理論基礎
    2.1 數字系統故障診斷基礎知識
        2.1.1 故障診斷
        2.1.2 32位單片機系統的故障模型
        2.1.3 最小系統
        2.1.4 ARM系統的測試策略
    2.2 邊界掃描測試BIT故障診斷技術
        2.2.1 JTAG邊界掃描技術概述
        2.2.2 邊界掃描測試類型與測試手段
    2.3 ARM內核調試技術的基礎知識
        2.3.1 ARM7TDMI調試構架
        2.3.2 ARM7TDMI調試原理
        2.3.3 EmbeddedICE-RT Logic
    2.4 小結
3 自適應測試算法
    3.1 測試算法理論基礎知識
    3.2 掃描測試定理
        3.2.1 故障檢測緊湊性定理
        3.2.2 故障檢測的完備性定理
    3.3 NAAC算法的不足
    3.4 自適應二次測試
        3.4.1 算法描述
        3.4.2 算法舉例
    3.5 小結
4 32位ARM系統地址總線測試算法
    4.1 問題的提出
    4.2 地址總線的測試算法
        4.2.1 SDRAM的工作原理
        4.2.2 地址總線低八位測試算法
        4.2.2 地址總線高位的測試
    4.3 小結
5 智能故障診斷系統設計
    5.1 智能故障診斷系統的總體設計思路
        5.1.1 基于 PC機的智能故障診斷系統
        5.1.2 基于 PDA的智能故障診斷系統
        5.1.3 目標測試系統的構造
    5.2 智能故障診斷系統硬件設計方案
        5.2.1 設計思路
        5.2.2 系統硬件工作原理
    5.3 智能故障診斷系統硬件設計
        5.3.1 智能故障診斷系統的電路設計
        5.3.2 邊界掃描接口電路設計
        5.3.3 邊界掃描接口底層驅動設計
    5.4 智能故障診斷系統的軟件設計方案
        5.4.1 智能故障診斷系統的總體測試步驟
        5.4.2 電源的檢測
        5.4.3 JTAG的檢測
        5.4.4 ARM內核的檢測
        5.4.5 外部時鐘的檢測
        5.4.6 串行通訊口的檢測
        5.4.7 數據總線的檢測
        5.4.8 地址總線的檢測
        5.4.9 控制總線的檢測
        5.4.10 邊界掃描器件的檢測
        5.4.11 存儲器的檢測
        5.4.12 I/O口的檢測
    5.5 專家系統的構成
    5.6 小結
6 結論與進一步研究
參考文獻
本文作者在讀期間科研成果簡介
聲明
致謝
附錄一 部分智能故障診斷系統診斷程序代碼
附錄二 部分智能故障診斷系統JTAG底層驅動程序代碼


【參考文獻】:
期刊論文
[1]故障診斷技術及其發(fā)展趨勢[J]. 陳煒峰,陸靜霞.  農機化研究. 2005(02)
[2]智能故障診斷技術綜述[J]. 王奉濤,馬孝江,鄒巖琨.  機床與液壓. 2003(04)
[3]智能BIT技術[J]. 張寶珍,曾天翔.  測控技術. 2000(11)
[4]智能設計體系結構的研究[J]. 歐陽渺安.  計算機工程與科學. 1999(02)
[5]智能化機內測試驗證系統的設計與實現[J]. 朱萬年.  航空電子技術. 1998(04)
[6]故障診斷專家系統綜述[J]. 劉嶸,周鳴岐.  測控技術. 1994(02)
[7]BIT和ATE的發(fā)展趨勢[J]. 王立群.  測控技術. 1993(06)

碩士論文
[1]NAAC算法及其在智能故障診斷系統中的應用[D]. 楊剛.四川大學 2003
[2]基于虛擬儀器的單片機電路板智能故障診斷儀[D]. 李江寧.四川大學 2001



本文編號:3306678

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