隨著各種ARM系列32位微處理和微控制芯片的廣泛應(yīng)用，數(shù)字單片機(jī)系統(tǒng)功能越來越強(qiáng)，集成度越來越高。為滿足這些數(shù)字系統(tǒng)的故障檢測需求，出現(xiàn)了許多智能故障檢測和診斷的方法，然而在將這些方法應(yīng)用到實(shí)際的故障診斷系統(tǒng)中后，遇到了一些難題，其中如何區(qū)分并解決多線橋接故障中征兆混淆問題和地址總線故障診斷一直是智能故障診斷系統(tǒng)設(shè)計(jì)的難題。為解決這一難題，本文深入研究目前國內(nèi)外最新取得的一些理論成果，如故障檢測和緊湊性定理、故障診斷完備性定理和抗誤判定理，通過這些研究為本文的撰寫提供了堅(jiān)實(shí)的理論依據(jù)。 本文作者對一類的測試優(yōu)化算法：NAAC算法（No Aliasing and Anti-Confounding Algorithm：無誤判抗混淆算法）進(jìn)行深入研究，為彌補(bǔ)其不能很好解決橋接故障的征兆混淆的不足，對NAAC算法進(jìn)行改進(jìn)，提出一種自適應(yīng)二次測試算法。并將其應(yīng)用于實(shí)際的ARM智能故障診斷系統(tǒng)中。采用自適應(yīng)NAAC算法生成的測試矩陣能夠確保無征兆誤判，同時(shí)還能將大的測試矩陣壓縮成小規(guī)模的測試矩陣。在其生成的測試矩陣中各PTV互不相同，但都具有相同的權(quán)值，而權(quán)值可以由故障診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)者予以指... 

【文章來源】：四川大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：112 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
目錄
1 綜述
    1.1 引言
    1.2 故障診斷技術(shù)發(fā)展及技術(shù)概述
        1.2.1 基于狀態(tài)估計(jì)的方法
        1.2.2 基于參數(shù)估計(jì)的方法
        1.2.3 基于專家系統(tǒng)的故障診斷方法
        1.2.4 基于模式識(shí)別的故障診斷方法
        1.2.5 基于模糊數(shù)學(xué)的故障診斷方法
        1.2.6 基于人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的故障診斷方法
        1.2.7 基于邊界掃描測試的BIT故障診斷方法
    1.3 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢
    1.4 本系統(tǒng)設(shè)計(jì)任務(wù)及意義
    1.5 本設(shè)計(jì)所做的工作以及創(chuàng)新之處
2 智能故障診斷系統(tǒng)的理論基礎(chǔ)
    2.1 數(shù)字系統(tǒng)故障診斷基礎(chǔ)知識(shí)
        2.1.1 故障診斷
        2.1.2 32位單片機(jī)系統(tǒng)的故障模型
        2.1.3 最小系統(tǒng)
        2.1.4 ARM系統(tǒng)的測試策略
    2.2 邊界掃描測試BIT故障診斷技術(shù)
        2.2.1 JTAG邊界掃描技術(shù)概述
        2.2.2 邊界掃描測試類型與測試手段
    2.3 ARM內(nèi)核調(diào)試技術(shù)的基礎(chǔ)知識(shí)
        2.3.1 ARM7TDMI調(diào)試構(gòu)架
        2.3.2 ARM7TDMI調(diào)試原理
        2.3.3 EmbeddedICE-RT Logic
    2.4 小結(jié)
3 自適應(yīng)測試算法
    3.1 測試算法理論基礎(chǔ)知識(shí)
    3.2 掃描測試定理
        3.2.1 故障檢測緊湊性定理
        3.2.2 故障檢測的完備性定理
    3.3 NAAC算法的不足
    3.4 自適應(yīng)二次測試
        3.4.1 算法描述
        3.4.2 算法舉例
    3.5 小結(jié)
4 32位ARM系統(tǒng)地址總線測試算法
    4.1 問題的提出
    4.2 地址總線的測試算法
        4.2.1 SDRAM的工作原理
        4.2.2 地址總線低八位測試算法
        4.2.2 地址總線高位的測試
    4.3 小結(jié)
5 智能故障診斷系統(tǒng)設(shè)計(jì)
    5.1 智能故障診斷系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)思路
        5.1.1 基于 PC機(jī)的智能故障診斷系統(tǒng)
        5.1.2 基于 PDA的智能故障診斷系統(tǒng)
        5.1.3 目標(biāo)測試系統(tǒng)的構(gòu)造
    5.2 智能故障診斷系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)方案
        5.2.1 設(shè)計(jì)思路
        5.2.2 系統(tǒng)硬件工作原理
    5.3 智能故障診斷系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)
        5.3.1 智能故障診斷系統(tǒng)的電路設(shè)計(jì)
        5.3.2 邊界掃描接口電路設(shè)計(jì)
        5.3.3 邊界掃描接口底層驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)
    5.4 智能故障診斷系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)方案
        5.4.1 智能故障診斷系統(tǒng)的總體測試步驟
        5.4.2 電源的檢測
        5.4.3 JTAG的檢測
        5.4.4 ARM內(nèi)核的檢測
        5.4.5 外部時(shí)鐘的檢測
        5.4.6 串行通訊口的檢測
        5.4.7 數(shù)據(jù)總線的檢測
        5.4.8 地址總線的檢測
        5.4.9 控制總線的檢測
        5.4.10 邊界掃描器件的檢測
        5.4.11 存儲(chǔ)器的檢測
        5.4.12 I/O口的檢測
    5.5 專家系統(tǒng)的構(gòu)成
    5.6 小結(jié)
6 結(jié)論與進(jìn)一步研究
參考文獻(xiàn)
本文作者在讀期間科研成果簡介
聲明
致謝
附錄一 部分智能故障診斷系統(tǒng)診斷程序代碼
附錄二 部分智能故障診斷系統(tǒng)JTAG底層驅(qū)動(dòng)程序代碼


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]故障診斷技術(shù)及其發(fā)展趨勢[J]. 陳煒峰,陸靜霞.  農(nóng)機(jī)化研究. 2005(02)
[2]智能故障診斷技術(shù)綜述[J]. 王奉濤,馬孝江,鄒巖琨.  機(jī)床與液壓. 2003(04)
[3]智能BIT技術(shù)[J]. 張寶珍,曾天翔.  測控技術(shù). 2000(11)
[4]智能設(shè)計(jì)體系結(jié)構(gòu)的研究[J]. 歐陽渺安.  計(jì)算機(jī)工程與科學(xué). 1999(02)
[5]智能化機(jī)內(nèi)測試驗(yàn)證系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]. 朱萬年.  航空電子技術(shù). 1998(04)
[6]故障診斷專家系統(tǒng)綜述[J]. 劉嶸,周鳴岐.  測控技術(shù). 1994(02)
[7]BIT和ATE的發(fā)展趨勢[J]. 王立群.  測控技術(shù). 1993(06)

碩士論文
[1]NAAC算法及其在智能故障診斷系統(tǒng)中的應(yīng)用[D]. 楊剛.四川大學(xué) 2003
[2]基于虛擬儀器的單片機(jī)電路板智能故障診斷儀[D]. 李江寧.四川大學(xué) 2001



本文編號：3306678