本文關(guān)鍵詞：帶微處理器數(shù)字電路的故障測(cè)試研究，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子設(shè)備越來(lái)越多地實(shí)現(xiàn)了智能化,其關(guān)鍵是采用了微處理器電路。如何對(duì)帶有微處理器的數(shù)字電路進(jìn)行測(cè)試和故障診斷已成為智能電子設(shè)備生產(chǎn)和維修中必須解決的一個(gè)難題。因此,研究帶微處理器電路的故障測(cè)試,建立有效的測(cè)試方法變得十分有意義。論文以智能化設(shè)備中的重要部分(帶微處理器電路)為研究對(duì)象,從帶微處理器電路的特點(diǎn)和測(cè)試需求研究出發(fā),較為系統(tǒng)地研究了帶微處理器電路測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、主要故障類型、測(cè)試算法等問(wèn)題。論文完成的主要工作和成果如下:(1)給出了一種帶處理器數(shù)字電路測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案。并對(duì)系統(tǒng)的功能組成、主要性能指標(biāo)、工作原理以及各部分的作用進(jìn)行了討論。(2)針對(duì)帶微處理器電路具有總線結(jié)構(gòu),利用常規(guī)儀器儀表測(cè)試總線電路存在測(cè)試速度慢、定位故障困難的問(wèn)題,提出了一種基于JTAG電路的總線測(cè)試與故障診斷的方法,試驗(yàn)結(jié)果表明,這種方法具有電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單,測(cè)試速度快的特點(diǎn)。(3)針對(duì)帶微處理器電路存在大容量存儲(chǔ)器件的問(wèn)題。論文對(duì)ROM、RAM等的測(cè)試診斷問(wèn)題進(jìn)行了重點(diǎn)研究。研究?jī)?nèi)容主要包括存儲(chǔ)器的故障類型、只讀存儲(chǔ)器和隨機(jī)存儲(chǔ)器的測(cè)試算法,以及采用總線仿真技術(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)ROM、RAM測(cè)試的電路實(shí)現(xiàn)方法,并進(jìn)行了初步實(shí)驗(yàn)研究。(4)針對(duì)目前超大規(guī)模集成電路和存儲(chǔ)器采用內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)的實(shí)際,論文研究了內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)的原理與測(cè)試方法。
【關(guān)鍵詞】：微處理器 存儲(chǔ)器 測(cè)試 故障診斷 總線仿真
【學(xué)位授予單位】：湖北工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TP332;TN79
【目錄】：

• 摘要5-6
• Abstract6-7
• 目錄7-9
• 第1章 緒論9-19
• 1.1 課題的來(lái)源及背景9-10
• 1.2 電路測(cè)試的概述10-13
• 1.2.1 模擬電路測(cè)試10-11
• 1.2.2 數(shù)字電路測(cè)試11
• 1.2.3 帶微處理器數(shù)字電路測(cè)試11-13
• 1.3 國(guó)內(nèi)外帶微處理器電路測(cè)試研究的現(xiàn)狀13-17
• 1.4 本文主要的研究?jī)?nèi)容17-19
• 第2章 帶微處理器數(shù)字電路測(cè)試系統(tǒng)19-28
• 2.1 測(cè)試原理19-20
• 2.2 測(cè)試系統(tǒng)功能組成與指標(biāo)20-22
• 2.2.1 復(fù)雜集成電路在線測(cè)試儀20-21
• 2.2.2 帶微處理器電路測(cè)試系統(tǒng)21
• 2.2.3 主要技術(shù)指標(biāo)21-22
• 2.3 總線仿真測(cè)試子系統(tǒng)22-25
• 2.3.1 總線仿真器的工作原理22-24
• 2.3.2 總線仿真器測(cè)試軟件平臺(tái)24-25
• 2.4 基于邊界掃描的總線測(cè)試子系統(tǒng)25-27
• 2.4.1 總線測(cè)試原理25
• 2.4.2 邊界掃描數(shù)據(jù)加載電路原理25-27
• 2.4.3 基于邊界掃描的總線測(cè)試診斷軟件27
• 2.5 本章小結(jié)27-28
• 第3章 帶微處理器電路的故障類型28-32
• 3.1 總線故障類型28-29
• 3.2 存儲(chǔ)器故障類型29-30
• 3.2.1 存儲(chǔ)器的分類29
• 3.2.2 存儲(chǔ)器故障類型29-30
• 3.3 I/O的故障類型30-31
• 3.4 處理器故障31
• 3.5 本章小結(jié)31-32
• 第4章 帶微處理器電路的測(cè)試方法32-44
• 4.1 總線測(cè)試方法32-36
• 4.1.1 圖形測(cè)試32-33
• 4.1.2 基于JTAG的總線測(cè)試電路33-36
• 4.2 只讀存儲(chǔ)器測(cè)試原理和測(cè)試方法36-37
• 4.3 隨機(jī)存儲(chǔ)器的測(cè)試方法37-43
• 4.3.1 隨機(jī)存儲(chǔ)器的測(cè)試算法38-41
• 4.3.2 隨機(jī)存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)41-43
• 4.4 本章小結(jié)43-44
• 第5章 測(cè)試方法的實(shí)現(xiàn)44-52
• 5.1 總線測(cè)試44
• 5.2 對(duì)只讀存儲(chǔ)器的測(cè)試44-48
• 5.3 對(duì)隨機(jī)存儲(chǔ)器的測(cè)試48-51
• 5.3.1 仿真技術(shù)簡(jiǎn)介48-49
• 5.3.2 程序?qū)崿F(xiàn)及仿真49-51
• 5.4 本章小結(jié)51-52
• 第6章 總結(jié)與展望52-53
• 6.1 全文總結(jié)52
• 6.2 工作展望52-53
• 參考文獻(xiàn)53-56
• 致謝56-57
• 附錄#@@

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本文編號(hào)：323084