隨著集成電路設(shè)計與加工技術(shù)的飛速發(fā)展，測試作為IC產(chǎn)業(yè)中一個極為重要的環(huán)節(jié)，變得越來越困難。特別是進入深亞微米發(fā)展階段以來，通過集成各種IP核，系統(tǒng)級芯片的功能更加強大，同時也帶來了一系列的測試問題。工業(yè)界常采用電壓測試和穩(wěn)態(tài)電流測試方法來測試數(shù)字CMOS IC。電壓測試的方法比較簡單，速度快，它對于檢測固定型故障是有效的，但對于檢測CMOS工藝中的其他類型故障則顯得有些不足。20世紀80年代初，人們提出了用測量CMOS電路穩(wěn)態(tài)電流的方法來測試集成電路，但隨著深亞微米技術(shù)的發(fā)展，這種方法的局限性也暴露出來，如測試速度慢、故障與正常電流的差別變小等。90年代中期，人們提出了瞬態(tài)電流測試的方法，試圖通過分析正常電路和故障電路在兩次穩(wěn)定狀態(tài)之間電流變化過程的不同來發(fā)現(xiàn)一些其他測試方法所不能發(fā)現(xiàn)的故障，以進一步提高故障覆蓋率。本文在瞬態(tài)電流測試已有算法的基礎(chǔ)上，針對門時延故障模型，提出了一種基于3個向量的測試產(chǎn)生算法。實驗表明產(chǎn)生的向量能有效的檢測時延故障。為了進一步驗證瞬態(tài)電流測試方法的理論，本文著手對具體電路的瞬態(tài)電流進行測量。對給定電路C432的3個特定故障：168點開路故障、444點固... 

【文章來源】：湖南大學湖南省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：65 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

C17電路圖

C432故陣電路瞬態(tài)電流波形

被測芯片整體版圖

【參考文獻】：
期刊論文
[1]全速電流測試的故障精簡和測試生成[J]. 牛小燕,閔應驊,鄺繼順.  計算機輔助設(shè)計與圖形學學報. 2004(10)
[2]CMOS IC漏極靜態(tài)電流測試技術(shù)的現(xiàn)狀與發(fā)展[J]. 姜巖峰,張曉波,鞠家欣.  微電子學. 2004(04)
[3]減少多種子內(nèi)建自測試方法硬件開銷的有效途徑[J]. 李立健,趙瑞蓮.  計算機輔助設(shè)計與圖形學學報. 2003(06)
[4]FAN算法在瞬態(tài)電流測試產(chǎn)生中的應用[J]. 魏小芬,鄺繼順.  同濟大學學報(自然科學版). 2002(10)
[5]一種動態(tài)電流測試產(chǎn)生方法的SPICE模擬驗證[J]. 朱啟建,鄺繼順,張大方.  電子學報. 2002(08)
[6]通路時延測試綜述[J]. 李華偉,閔應驊,李忠誠.  計算機工程與科學. 2002(02)
[7]基于布爾過程的組合電路波形模擬[J]. 李立健,閔應驊.  計算機輔助設(shè)計與圖形學學報. 2001(03)
[8]CMOS電路電流測試綜述[J]. 閔應驊.  計算機研究與發(fā)展. 1999(02)

碩士論文
[1]提高瞬態(tài)電流測試自動測試生成時間效率的方法及全速電流模擬[D]. 張鑫.湖南大學 2005
[2]基于非確定門延時的瞬態(tài)電流測試生成算法研究及BIST測試產(chǎn)生器設(shè)計[D]. 汪昱.湖南大學 2004
[3]IDDT動態(tài)電流測試方法研究[D]. 朱啟建.湖南大學 2002



本文編號：3080009