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多路負(fù)載驅(qū)動模塊檢測電路在調(diào)試測試中的應(yīng)用

發(fā)布時間:2020-12-25 05:20
  本文以STM32F103單片機(jī)為核心設(shè)計了多路負(fù)載驅(qū)動模塊檢測電路,其中硬件電路內(nèi)容涉及模擬負(fù)載電流取樣電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、STM32F103單片機(jī)。文中介紹了多路負(fù)載驅(qū)動模塊檢測電路在日常調(diào)試測試中的用途,闡述了該檢測電路與其他常用調(diào)試測試方法相比較存在的優(yōu)勢,并展望了其發(fā)展方向。 

【文章來源】:電子制作. 2020年07期

【文章頁數(shù)】:3 頁

【部分圖文】:

多路負(fù)載驅(qū)動模塊檢測電路在調(diào)試測試中的應(yīng)用


檢測電路系統(tǒng)原理框圖

框圖,芯片,原理,框圖


ADS8686S采用采用內(nèi)部2.5V電壓基準(zhǔn)作為參考,多顆之間采用圖3所示擴(kuò)展方式共享基準(zhǔn)。主處理器采用STM32F103,可完成ADC驅(qū)動和數(shù)據(jù)讀出,同時通過串口與被檢測設(shè)備通信,通過GPIO實現(xiàn)時序交互同步控制。


本文編號:2937036

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